北京中慧天誠科技有限公司

HXW-Ⅱ型微位移測試儀

時間:2014-5-15閱讀:575
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微位移測試儀
型號:HXW-Ⅱ
貨號:ZH10630

產(chǎn)品簡介:
自動化控制和光學設備在定位、校正、檢測、光路對準中都到精密移動與控制。微位移測試儀是能夠?qū)崿F(xiàn)精密位移的微位移測控設備,針對企業(yè)眾多產(chǎn)品的對準、調(diào)節(jié)、位移和封裝等,以產(chǎn)品的不同而配對的精密平臺可作X軸、Y軸、Z軸、R軸、S軸手動/自動調(diào)整,微分頭精密移動調(diào)整。實現(xiàn)精密移動,重復定位精度高、性能穩(wěn)定、重復性好、配套組合功能齊,并且模塊式結(jié)構(gòu)組合拆卸方便,并提供系列化組合平臺用于固定裝置的卡具和托架??梢栽趽u擺臺小角度搖擺情況下距離幾米外接觸測量,對被測對象額外增加的(用于測試所需的)負載體積小、重量輕。
測試功能:
 1、在被測對象同時存在平動及轉(zhuǎn)動的情況下實現(xiàn)對被測對象方位及俯仰兩軸轉(zhuǎn)動的同時測試,測量時對被測對象接觸;
 2、被測對象運動測量的角分辨率:2",精度10";
 3、測量范圍(被測對象方位及俯仰方向轉(zhuǎn)角范圍) :±2.25 °;
 4、測量頻率(幀頻):不低于1000Hz, 在1000Hz幀頻滿幅情況下持續(xù)測試時間不少于4s。

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