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高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀（基本型）τ:10～6000μs ρ＞3Ω?cm 型號(hào)：GDW3-LT-1A

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產(chǎn)品型號(hào)GDW3-LT-1A

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廠商性質(zhì)其他

所在地北京市

更新時(shí)間：2021-06-08 13:29:09瀏覽次數(shù)：1275次

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用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量，除需要有一個(gè)測(cè)量平面外，對(duì)樣塊體形嚴(yán)格要求，可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶的重要檢測(cè)項(xiàng)目。

高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀（基本型）τ:10～6000μs ρ＞3Ω•cm 型號(hào)：GDW3-LT-1A
 		 貨號(hào)：ZH411
1、  用途
用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量，除需要有一個(gè)測(cè)量平面外，對(duì)樣塊體形嚴(yán)格要求，可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶的重要檢測(cè)項(xiàng)目。
2、  設(shè)備組成
2.1、光脈沖發(fā)生裝置
重復(fù)頻率＞25次/s      脈寬＞60μｓ          光脈沖關(guān)斷時(shí)間＜0.2-1μｓ
紅外光源波長(zhǎng)：1.06～1.09μm（測(cè)量硅單晶）   脈沖電流：5A～20A
如測(cè)量鍺單晶壽命需配置適當(dāng)波長(zhǎng)的光源
2.2、高頻源
頻率：30MHz       低輸出阻抗      輸出功率＞1W
2.3、放大器和檢波器
頻率響應(yīng)：2Hz～2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應(yīng)連續(xù)可調(diào)。
3、測(cè)量范圍
LT-1可測(cè)硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測(cè)量范圍：5～6000μｓ
 

 

紙張光澤度儀

該款光澤度儀是按照檢定規(guī)程JJG 696（鏡向光澤度計(jì)和光澤度板）標(biāo)準(zhǔn)

電子水平儀

功能特點(diǎn)：$r$n1.自校正功能，水平儀需利用外部設(shè)備就可校正；$r$

高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀（學(xué)校用） 型號(hào)：ZH8202

設(shè)備組成$r$n1.光脈沖發(fā)生裝置:$r$n重復(fù)頻率>25次/s$r$

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