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高頻光電導少子壽命測試儀/高頻光電導壽命測試儀（生產(chǎn)用） 型號：KDKLT-1B
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貨物所在地：北京北京市

更新時間：2024-03-16 11:13:10

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τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm ，配數(shù)字示波器
用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)的重要檢測項目。

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