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高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀/高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀（學(xué)校用） 型號(hào)：KDKLT-1
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更新時(shí)間：2024-03-16 11:13:10

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τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm ，配數(shù)字示波器;用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量，除需要有一個(gè)測(cè)量平面外，對(duì)樣塊體形嚴(yán)格要求，可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)的重要檢測(cè)項(xiàng)目。

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