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高溫測量鐵電參數(shù)測試儀優(yōu)點

閱讀:622        發(fā)布時間:2023/4/25
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高溫測量鐵電參數(shù)測試儀本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和,并且能實現(xiàn)較高的測量,它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和化ps、剩余化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù),以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。能夠測量鐵電薄膜的鐵電。儀器采用一體化設(shè)計,實現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡單方便。 
高溫測量鐵電參數(shù)測試儀優(yōu)點:  
可測量壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù)
測量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試  
可測量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測試  
它可測量壓電陶瓷的因數(shù)及機電耦合系數(shù)  
可選配不同的測試裝置進行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測試  
本儀器可配合高壓放大器實現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測

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