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可在不同溫度,頻率下測量材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)的系統(tǒng)?

閱讀:270        發(fā)布時(shí)間:2024/12/30
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 可在不同溫度,頻率下測量材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)的系統(tǒng)?

  高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)從低頻到高頻信號的輸出與測量,系統(tǒng)由工控機(jī)發(fā)出指令,單片機(jī)控制FPGA發(fā)出測量波形,F(xiàn)PGA一路信號控制不同頻率幅值的信號由高壓放大器進(jìn)行電壓放大后,施加在樣品上,另一路施加在鎖相放大器作為參考信號,不同頻率幅值的高壓信號加載樣樣品上,樣品測量的信號測量后,再回傳FPGA測試板卡。測量的數(shù)據(jù)再由單片機(jī)回傳工控機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

它使用真正的 AC DFR(介電頻率響應(yīng)),保持出色的準(zhǔn)確性和提供可靠數(shù)據(jù)的能力,可在高干擾環(huán)境中獲得可靠的測試結(jié)果。 該軟件使測試既簡單又快捷,它可在進(jìn)行不同溫度,頻率下測量材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)。本套系統(tǒng)可以在任意電壓激勵下的介電響應(yīng)測試根據(jù)需要自定義輸出任意電壓波形激勵,滿足對不同條件下不同絕緣材料不同方面的測試需求,好地適應(yīng)用戶需求。


產(chǎn)品優(yōu)勢

對被測信號進(jìn)行調(diào)整的信號源,由鎖相放大器的信號輸出端提供,采用內(nèi)部參考模式,這種模式幅于鎖相放大器對直接可以獲取的參考信號的幅度及相位,測量精度更高。數(shù)字鎖相放大器不會由于算法計(jì)算而引入或考增加噪聲,并且基本不受外界環(huán)境的干擾。


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