| 注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏該商鋪

行業(yè)產(chǎn)品

13911821020
當(dāng)前位置:
北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司>>技術(shù)文章

產(chǎn)品展示

更多
  • 離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等

  • FDS 2000絕緣診斷分析儀絕緣材料樣

  • 固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)設(shè)備(電痕化指數(shù)

  • 華測(cè)測(cè)試介電交直流高壓功率放大器全系列是

  • Huace-300高阻計(jì) 絕緣材料的直流

  • 評(píng)估絕緣材料劣化程度離子遷移評(píng)估系統(tǒng),離

技術(shù)文章

  • 一、電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)儀器簡(jiǎn)介:Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度,測(cè)試時(shí),樣品的電荷是放回...
    2023/5/16
    查看全文
  • 膏體表面、體積電阻率測(cè)試儀的性能特點(diǎn)一、膏體膏體表面、體積電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品介紹:表面、體積電阻率測(cè)定儀標(biāo)準(zhǔn)GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》和美準(zhǔn)ASTMD257...
    2023/5/15
    查看全文
  • 塑料介電擊穿電壓測(cè)試設(shè)備的耐壓試驗(yàn)臺(tái)采用計(jì)算機(jī)控制,通過人機(jī)對(duì)話方式,完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿,工頻耐壓試驗(yàn)。電壓擊穿試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑...
    2023/5/11
    查看全文
  • 耐壓絕緣測(cè)試儀HC-9310HC9310可以提供5kVAC/10mA耐電壓、6kVDC/5mA耐電壓、絕緣電阻測(cè)試。儀器的原理結(jié)構(gòu):高壓模塊是一個(gè)DA基準(zhǔn)、可控正弦發(fā)生器、AB類功放、40~600Hz...
    2023/5/11
    查看全文
  • 儲(chǔ)能電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)Huace-DCS10KV產(chǎn)品介紹:Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度...
    2023/5/9
    查看全文
  • 電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)Huace-DCS10KV產(chǎn)品介紹:Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。目前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度,測(cè)...
    2023/5/8
    查看全文
  • 華測(cè)HCDH-200、300耐漏電起痕試驗(yàn)儀專業(yè)生產(chǎn)廠家基本簡(jiǎn)介:1、漏電起痕實(shí)驗(yàn)(電痕化指數(shù)實(shí)驗(yàn))是IEC60112、UL746A、GB/T4207、GB4706.1ASTMD3638-92等規(guī)范規(guī)...
    2023/5/6
    查看全文
  • 北京華測(cè)電壓擊穿試驗(yàn)儀保護(hù)措施試驗(yàn)在試驗(yàn)箱中進(jìn)行,試驗(yàn)箱門打開時(shí)電源加不到高壓變壓器輸入端,即高壓側(cè)無電壓。100KV測(cè)試設(shè)備高壓電極距離試驗(yàn)箱壁的zui近距離大于370mm,50KV測(cè)試設(shè)備高壓電極...
    2023/5/4
    查看全文
  • 皮安電流表的典型應(yīng)用4位半皮安電流表、飛安表結(jié)合了華測(cè)公司高靈敏度電流測(cè)量?jī)x器的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及快的速度和高的耐用性。這款經(jīng)濟(jì)型的儀器具有8個(gè)電流量程和快速自動(dòng)量程功能,可以測(cè)量20fA到20mA的電流,...
    2023/4/28
    查看全文
  • 高溫測(cè)量鐵電參數(shù)測(cè)試儀本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對(duì)測(cè)試的...
    2023/4/25
    查看全文

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

請(qǐng) 登錄 后再收藏

提示

您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~

對(duì)比框

產(chǎn)品對(duì)比 產(chǎn)品對(duì)比 二維碼 意見反饋 在線交流
在線留言