韓國XRF-2020測厚儀標準片校正塊

XRF-2000測厚儀標準片

通用型適合各種X光鍍層測厚儀

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片

專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。

也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品

根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。 

韓國MicroPXRF-2020鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板，LED支架等電鍍層厚度。

測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等，不限底材。

如單鍍層銅上鍍銀，銅上鍍鎳，銅上鍍鋅，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等

雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳，銅上鍍鎳鍍銀等，不限底材

多鍍層如：ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻，鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等，不限底材

合金鍍層如：鐵上鍍鋅鎳等。不限底材

韓國XRF-2020測厚儀標準片校正塊