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微先鋒電鍍測厚儀韓國XRF-2020H
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貨物所在地:上海上海市

更新時間:2024-11-02 17:44:19

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X-RAY膜厚測試儀MicroP XRF-2020L
微先鋒韓國鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀
檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層
XRF-2000韓國先鋒膜厚測試儀

X-RAY膜厚測試儀


微先鋒韓國MicroP XRF-2020


檢測電子電鍍,五金電鍍,端子連接器等產(chǎn)品電鍍層厚度


測量鍍金,鍍銀,鍍鎘,鍍鋅.鍍鎳,鍍錫.鍍鉻,鍍鋅鎳等


可廣泛使用于電鍍生產(chǎn)企業(yè)及成品來料檢測

方便更有效控制產(chǎn)品電鍍層厚度及品質。

可用于測量工件:PCB及五金工件、連接器端子接插件、半導體產(chǎn)品等各種金屬鍍層厚度。

測量時間只需要10-30秒即可獲得測量結果, 可測量直徑為0.2mm的產(chǎn)品。


測量范圍:0.03-35um;
測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積進行鍍層厚度的測量


微先鋒韓國鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀


如下圖所示



韓國XRF-2020鍍層膜厚儀


儀器規(guī)格

XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg


儀器全自動臺面

自動雷射對焦,多點自動測量


多個準直器可選擇:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換


微先鋒韓國鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀




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