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當前位置:上海精誠興儀器儀表有限公司> 供求商機> Micro Pioneer XRF2000測厚儀
測量電鍍層厚度,如電鍍或化學鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅,鍍鋅鎳合金等.
XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能*,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器,XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整。超大/開放式的樣品臺
可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的。可測量各類金屬層、合金層厚度等。
可測元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U) 原子序 22 – 92
準直器:固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統(tǒng)計功能
X射線鍍層測厚儀,X熒光無損測厚儀,X-RAY膜厚儀,電鍍測厚儀 韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀,X-RAY膜厚儀,無損電鍍測厚儀,X射線膜厚儀,X熒光無損測厚儀
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