一. 介電常數(shù)測(cè)試儀概述
B916 介質(zhì)損耗測(cè)試裝置可與本公司生產(chǎn)的各型號(hào)，對(duì)絕緣材料進(jìn)
行高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（損耗角正切值）的測(cè)試。介質(zhì)損耗測(cè)試
裝置采用了帶數(shù)顯的微測(cè)量裝置，因而在測(cè)試時(shí)，讀數(shù)更直觀方便，數(shù)據(jù)更。

二. 介電常數(shù)測(cè)試儀工作特性
1. 平板電容器：
極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
4．測(cè)微桿分辨率：0.001mm

三. 介電常數(shù)測(cè)試儀工作原理
本測(cè)試裝置主要由一個(gè)數(shù)顯的微測(cè)量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組
成，平板電容器用于夾持被測(cè)材料樣品。而數(shù)顯的微測(cè)量裝置，用于顯示被測(cè)材
料樣品的厚度。配用Q 表作為調(diào)諧指示儀器，通過(guò)被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容
器和不放進(jìn)材料樣品時(shí)的Q 值變化，可測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。同時(shí)，
由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。

四. 介電常數(shù)測(cè)試儀使用方法

各部件名稱(chēng)：
6位數(shù)字顯示；In: 英制測(cè)量模式；INC：相對(duì)測(cè)量模式；ABS：測(cè)量模式；Set：初始值設(shè)置；：電池電壓低報(bào)警（電池的更換見(jiàn)后面五注意事項(xiàng) ）；：數(shù)據(jù)輸出。
5）數(shù)據(jù)發(fā)送按鍵（本裝置沒(méi)有此功能）
6）ABS /INC/UNIT按鍵：短按時(shí)（小于1秒）為ABS /INC轉(zhuǎn)換，長(zhǎng)按時(shí)（大于1秒）為英制/公制轉(zhuǎn)換。
7）ON/OFF/ SET按鍵：短按時(shí)為開(kāi)關(guān)液晶顯示屏；長(zhǎng)按時(shí)為初始值設(shè)置。
8）平板電容器極片
9）夾具插頭
2．被測(cè)樣品的準(zhǔn)備
被測(cè)樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降，樣品要盡可能平直。
下面推薦一種能提高測(cè)試性的方法：準(zhǔn)備二片厚0.05mm的圓形錫膜，直徑和平板電容器極片一致，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘著作用，又能排除接觸面之間殘余空氣，把錫膜再粘在平板電容器兩個(gè)極片上，粘好后，極片呈鏡面狀為佳，然后放上被測(cè)樣品。
3. 測(cè)試準(zhǔn)備工作
先要詳細(xì)了解配用Q表的使用方法，操作時(shí)，要避免人體感應(yīng)的影響。
a. 把配用的Q表主調(diào)諧電容置于較小電容量。
b. 把本測(cè)試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
c. 配上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時(shí)電感取250uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按鍵，打開(kāi)液晶顯示屏。
e. 調(diào)節(jié)平板電容器測(cè)微桿，使平板電容器二極片相接為止，長(zhǎng)按SET按鍵將初始值設(shè)置為0。
4．介電常數(shù)Σ的測(cè)試
a. 再松開(kāi)二極片，把被測(cè)樣品插入二極片之間，調(diào)節(jié)平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測(cè)微桿，以免夾得過(guò)緊或過(guò)松），這時(shí)能讀取的
北京市海淀區(qū)建材城西路50號(hào) ：
測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調(diào)電容容
量，使Q 表處于諧振點(diǎn)上。
b. 取出平板電容器中的樣品，這時(shí)Q 表又失諧，此時(shí)調(diào)節(jié)平板電容器，
使Q 表再回到諧振點(diǎn)上，讀取測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
c. 計(jì)算被測(cè)樣品的介電常數(shù)：
Σ＝D2 / D4
5．介質(zhì)損耗系數(shù)的測(cè)試
a. 重新把測(cè)試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端上。
把被測(cè)樣品插入二極片之間，改變Q 表上的主調(diào)電容容量，使Q 表處于諧振點(diǎn)
上，讀得Q 值，記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。
b. 取出平板電容器中的樣品，這時(shí)Q 表又失諧，再改變Q 表上的主調(diào)電容
容量，使Q 表重新處于諧振點(diǎn)上。讀得Q 值，記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。
c. 然后取下測(cè)試裝置，再改變Q 表上的主調(diào)電容容量，重新使之諧振，電
容讀數(shù)記為C3，此時(shí)可計(jì)算得到測(cè)試裝置的電容為CZ = C3 －C1

標(biāo)簽：

介電常數(shù)測(cè)試儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

介電常數(shù)測(cè)定儀

介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀

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