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介電常數(shù)測(cè)試儀微波

閱讀:4140發(fā)布時(shí)間:2014-12-24

介電常數(shù)測(cè)試儀 應(yīng)用:高速數(shù)字/微波回路的各種材料;新材料;半導(dǎo)體材料;薄膜材料。 
【正確把握材料的電學(xué)性能,在新材料,以及新產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)得到zui大限度的利用】 
利用創(chuàng)新的開(kāi)發(fā)理念,實(shí)現(xiàn)了低成本開(kāi)發(fā)。 

計(jì)量技術(shù)的重大突破 
率的設(shè)備和系統(tǒng)應(yīng)用在現(xiàn)代寬帶通信技術(shù)中成功發(fā)展的關(guān)鍵是了解材料的電學(xué)性質(zhì)。在過(guò)去,微波知識(shí)的掌握和昂貴設(shè)備的使用經(jīng)驗(yàn)對(duì)傳統(tǒng)介質(zhì)的測(cè)量是必要的。而AET公司開(kāi)發(fā)的微波介電常數(shù)測(cè)定儀不需要昂貴的設(shè)備,它能夠快速無(wú)損的測(cè)量各種形狀的材料,包括薄膜電介質(zhì)材料,通過(guò)一個(gè)開(kāi)放型同軸共振器的消逝模式進(jìn)行測(cè)量。內(nèi)置的反饋電路可以使得測(cè)量更準(zhǔn)確,振蕩器的操作更簡(jiǎn)單。精度是通過(guò)結(jié)合高Q腔,高度的測(cè)量算法和三維電磁仿真軟件得到保證。

*MW STUDIO: 是CST GmbH提供的三維電磁場(chǎng)仿真軟件。

不用必須使用微波發(fā)生器 
AET的微波介電常數(shù)測(cè)試儀有兩種型號(hào)的,分別是合成掃描振蕩器型(可以代替微波發(fā)生器),和微波發(fā)生器型。合成掃描振蕩器型包括一個(gè)振蕩器(振蕩器中有一個(gè)微波信號(hào)發(fā)生裝置和一個(gè)檢測(cè)器),一個(gè)測(cè)量探測(cè)器,一套定制的軟件和一些附件。這款機(jī)器造價(jià)很低主要是由于他不用很昂貴的測(cè)量器件。另一種的微波發(fā)生型提供了微波發(fā)生裝置可供使用。它也包括一個(gè)測(cè)量探測(cè)器,一套定制的軟件和一些附件。 

快捷簡(jiǎn)便的測(cè)量: 
AET的微波介電常數(shù)測(cè)定儀zui大的優(yōu)勢(shì)是其使用簡(jiǎn)便,只需要簡(jiǎn)單的把樣品放置在測(cè)量探測(cè)器上即可完成測(cè)試。*的探測(cè)器的倏逝場(chǎng)可以很快,并且對(duì)許多形狀材料進(jìn)行無(wú)損測(cè)量。ε的隨機(jī)誤差小于1%,tanδ的隨機(jī)誤差小于5%。精度通過(guò)兩種不同參比材料的校準(zhǔn)來(lái)確定。通過(guò)計(jì)算參比物質(zhì)和樣品材料的相對(duì)誤差,消除外部誤差源(如室溫,濕度,震動(dòng)等) 
*&理想的測(cè)量探測(cè)器 

AET的微波介電常數(shù)測(cè)定儀擁有一個(gè)*的測(cè)試探測(cè)器叫做“同軸共振器"。測(cè)量可以選擇五點(diǎn)同時(shí)測(cè)量模式或者單個(gè)頻率測(cè)量模式。一個(gè)樣品材料放置在探測(cè)器上,一個(gè)倏逝電場(chǎng)從探測(cè)儀頂端滲入到樣品材料中。這個(gè)電場(chǎng)隨著材料的介電性質(zhì)而改變,依次改變共振頻率和整個(gè)腔體的Q值。而后介電性質(zhì)可以通過(guò)共振的變化被計(jì)算出來(lái)。高精度的測(cè)量計(jì)算程序來(lái)計(jì)算復(fù)雜的介電常數(shù),利用電磁場(chǎng)分布和倏逝模式共振的特性,通過(guò)“3D EM-field"模擬器“MW studio"來(lái)計(jì)算。

介電常數(shù)計(jì)量服務(wù): 
時(shí)至今日,介電特性的測(cè)量一直是基于微擾理論的近似計(jì)算。AET公司的介電常數(shù)計(jì)量服務(wù)是將一個(gè)高Q腔和3D電磁場(chǎng)模擬技術(shù)運(yùn)用到測(cè)量介電特性的過(guò)程中。介電常數(shù)計(jì)量服務(wù)可以使我們地測(cè)量出樣品的相關(guān)介電特性值。 
我們根據(jù)樣品材料的大小以及形狀選擇的測(cè)量方法,而后提供了幾乎所有樣品材料的測(cè)量方法,包括固體,片材,薄膜樣品,多層電路板,顆粒以及液體。 

應(yīng)用: 
基體材料的高速數(shù)字/微波電路;低損耗介質(zhì)用于過(guò)濾和介質(zhì)天線;薄膜材料和新材料;半導(dǎo)體材料;醫(yī)療電子;化學(xué)制品;食品(水分含量);人體組織;氣體;液體。 

提供材料的信息,比如:質(zhì)量,大小和形狀,粗糙度 



技術(shù)參數(shù):

(一) 同軸共振器型介電常數(shù)測(cè)定儀:(可以對(duì)所有形狀的樣品進(jìn)行測(cè)試)
1. 頻率:0.8~18GHz 
2. 頻率點(diǎn):可以選擇五個(gè)離散的頻率點(diǎn)或者一個(gè)點(diǎn) 
3. 測(cè)量范圍:ε:1-15 tanδ:0.001~0.1 
4. 測(cè)量精度:ε:±1% tanδ:±5% 
5. 樣品形狀:形狀可以任意只要有平滑的表面即可(但是,平滑表面面積要在10mm×10mm以上,厚度在0.5mm以上)。

(二)共振腔型介電常數(shù)測(cè)定儀:(測(cè)定薄膜和多層印刷電路板)  
1. 頻率:1~18GHz 
2. 頻率點(diǎn):每一次共振一個(gè)點(diǎn) 
3. 測(cè)量范圍:ε:1-30 tanδ:0.0001~0.1 
4. 測(cè)量精度:ε:±1% tanδ:±5% 
5. 樣品形狀:條狀、圓棒狀、方桿、薄膜



主要特點(diǎn):

(一) 同軸共振器型介電常數(shù)測(cè)定儀:(可以對(duì)所有形狀的樣品進(jìn)行測(cè)試) 
特點(diǎn): 
1. 一個(gè)開(kāi)放型同軸共振器用倏逝模式的波進(jìn)行測(cè)定:倏逝波 
一個(gè)樣品材料放在探測(cè)儀上,一個(gè)倏逝電場(chǎng)從探測(cè)儀頂端滲入到樣品材料中。這個(gè)電場(chǎng)隨著材料的介電性質(zhì)而改變,依次改變共振頻率和整個(gè)腔體的Q值。而后介電性質(zhì)可以通過(guò)共振的變化被計(jì)算出來(lái)。 
2.簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確,無(wú)破壞性的測(cè)定: 
一個(gè)開(kāi)放型的共振器可以簡(jiǎn)單的進(jìn)行樣品放置,快捷準(zhǔn)確的對(duì)其介電性質(zhì)進(jìn)行測(cè)量。 
3.穩(wěn)定的測(cè)定: 
可以通過(guò)真空附件提供樣品與探測(cè)器的緊密連接。 
(二)共振腔型介電常數(shù)測(cè)定儀:(測(cè)定薄膜和多層印刷電路板) 
特點(diǎn): 
1. 通過(guò)共振腔進(jìn)行測(cè)量 
把樣品添加入共振腔中,電場(chǎng)隨著樣品材料的介電性質(zhì)而改變,依次改變共振頻率和整個(gè)腔體的Q值。而后介電性質(zhì)可以通過(guò)改變的共振被計(jì)算出來(lái)。 
2. 簡(jiǎn)單快捷的測(cè)量 
在樣品插入共振腔在很短的時(shí)間內(nèi),介電常數(shù)就可以測(cè)出來(lái)。



標(biāo)簽:介電常數(shù)測(cè)試儀 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀 介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀 


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