介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的
物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質(zhì)損耗
和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，
并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。

^{BH916測試裝置 GDAT高頻Q表}
^{平板電容極片}	^{Φ50mm/Φ38mm可選}	^頻率范圍	^{20KHz-60MHz/200KHz-160MHz}
^{間距可調(diào)范圍}	^≥15mm	^{頻率指示誤差}	^{3×10-5±1個字}
^{夾具插頭間距}	^25mm±0.01mm	^{主電容調(diào)節(jié)范圍}	^{30-500/18-220pF}
^{測微桿分辨率}	^0.001mm	^{主調(diào)電容誤差}	^<1%或1pF
^{夾具損耗角正切值}	^{≦4×10-4 （1MHz）}	^{Q測試范圍}	^2～1023

^{附表二,LKI-1電感組典型測試數(shù)據(jù)}
^線圈號	^測試頻率	^Q值	^{分布電容p}	^電感值
⁹	^100KHz	⁹⁸	^9.4	^25mH
⁸	^400KHz	¹³⁸	^11.4	^4.87mH
⁷	^400KHz	²⁰²	¹⁶	^0.99mH
⁶	^1MHz	¹⁹⁶	¹³	^252μH
⁵	^2MHz	¹⁹⁸	^8.7	^49.8μH
⁴	^4.5MHz	²³¹	⁷	^10μH
³	^12MHz	¹⁹³	^6.9	^2.49μH
²	^12MHz	²²⁹	^6.4	^0.508μH
¹	^25MHz 50MHz	^233 211	^0.9	^0.125μH

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