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塑料介電常數(shù)介質損耗測試儀
參考價 | 面議 |
- 型號 GDAT-A
- 品牌
- 廠商性質 生產(chǎn)商
- 所在地 北京市
更新時間:2024-08-13 17:42:16瀏覽次數(shù):1007
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1.測試裝置使用結束后,請及時關閉液晶顯示屏的電源,可延長電池的壽命。如果電池發(fā)出電壓低報警,應及時更換電池保證測量的精度。電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。用工具將十字蓋冒逆時針旋轉約45°,既可取下十字蓋冒,更換電池。
2.本測試裝置是由精密機械構件組成的測微設備,所以在使用和保存時要避免振動和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,用戶不能自行拆裝,否
介電常數(shù)介質損耗測試儀特點:
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術,使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。
◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
介電常數(shù)介質損耗測試儀主要技術指標:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數(shù)顯,壓控振蕩器
Q值測量范圍:1~1000三位數(shù)顯,±1Q分辨率
可調(diào)電容范圍:40~500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差:±1%±1pF
Q表殘余電感值:約20nH
介電常數(shù)介質損耗測試儀概述
介電常數(shù)介質損耗測試儀對絕緣材料進行高頻介電常數(shù)和介質損耗系數(shù)(損耗角正切值)的測試。916介質損耗測試裝置采用了帶數(shù)顯的微測量裝置,因而在測試時,讀數(shù)更直觀方便,數(shù)據(jù)更精確。
介電常數(shù)介質損耗測試儀工作特性
- 平板電容器:
極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調(diào)范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
介電常數(shù)介質損耗測試儀工作原理
本測試裝置主要由一個數(shù)顯的微測量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成,平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數(shù)顯的微測量裝置,用于顯示被測材料樣品的厚度。配用Q表作為調(diào)諧指示儀器,通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進材料樣品時的Q值變化,可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時,由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。
被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直。
- 注意事項:
1. 測試裝置使用結束后,請及時關閉液晶顯示屏的電源,可延長電池的壽命。如果電池發(fā)出電壓低報警,應及時更換電池保證測量的精度。電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。用工具將十字蓋冒逆時針旋轉約45°,既可取下十字蓋冒,更換電池。
2.本測試裝置是由精密機械構件組成的測微設備,所以在使用和保存時要避免振動和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,用戶不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測試夾具受到碰撞,可以送生產(chǎn)廠家定期檢查,要檢測以下幾個指標:
- 平板電容器二極片平行度在0-5mm間連續(xù)不超過0.05 mm。
- 圓筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責,化工儀器網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。 溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產(chǎn)品前務必確認供應商資質及產(chǎn)品質量。