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絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀

絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 GDAT-A
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市

更新時間:2024-08-14 15:27:06瀏覽次數(shù):1285

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產(chǎn)品簡介
絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀

絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀主要技術(shù)指標(biāo):

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作頻率范圍:50kHz~50MHz    四位數(shù)顯,壓控振蕩器

Q值測量范圍:1~1000三位數(shù)顯,±1Q分辨率

可調(diào)電容范圍:40~500 pF  ΔC±3pF

電容測量誤差:±1%±1pF

Q表殘余電感值:約20nH

 

 

絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀測介電常數(shù)

調(diào)節(jié)平板電容器測微桿,使二極片相接為止,讀取刻度值記為DO。

再松開二極片,把被測樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取新的刻度值,記為D1,這時樣品厚度D2= D1D0。

選鈕8順時針擰到頭。

開機(jī),按5號鍵或6號鍵選擇電感;按照提示,通過選鈕7調(diào)節(jié)通道。

1號鍵(自動)搜索頻率,Q達(dá)到zui大,自動鎖定頻率。

(如Q比較小,再次按1號鍵搜索頻率;還可以通過34號鍵手動調(diào)節(jié)頻率找到*諧振頻率)

取出平板電容器中的樣品(切記不要調(diào)節(jié)頻率),這時Q表又失諧,調(diào)節(jié)平板電容器,使再諧振(只調(diào)節(jié)平板電容,不調(diào)節(jié)頻率,Q再次達(dá)到zui大),讀取測微桿上的讀值D3,其變化值為D4= D3D0。

被測樣品的介電常數(shù):Σ=D2 / D4

 

 

 

 

主要特點(diǎn):空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 

 

 

電感器:

按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。

例如:在1MHz測試頻率時,要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時,要配0.1μH電感器等。

 

 

 

特點(diǎn): 

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨(dú)立信號   源輸出口,所以本機(jī)又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

 

 

 


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