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[供應(yīng)]BEST-121-高絕緣材料固體體積表面電阻率測試儀
高絕緣材料固體體積表面電阻率測試儀概述
BEST- 121型高絕緣電阻測量儀用于測量絕緣材料、電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻；與恒溫水浴配套后，還能測量不同溫度下的塑料電線電纜（無屏蔽層）的絕緣電阻，該儀器具有測量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡單、輸入端高壓短路等優(yōu)點，儀器的zui高量程 1018Ω電阻值（測試電壓為 1000V）。 本儀表貫徹 Q/TPGG 7-2008 高絕緣電阻測量儀企業(yè)標準。
高絕緣材料固體體積表面電阻率測試儀主要應(yīng)用范圍
l 材料高阻測試測量如防靜電產(chǎn)品（防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等）電阻值的檢測；
l 材料體電阻(率)和表面電阻(率)測量；
l 電化學和材料測試,以及物理,光學和材料研究;
l 微弱電流測量如光電效應(yīng)和器件暗電流測量。
高絕緣材料固體體積表面電阻率測試儀同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，所以, 即使測量電壓、被測量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對其結(jié)果影響不大，其測量精度很高。從理論上講其誤差可以做到零。而實際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。
高絕緣材料固體體積表面電阻率測試儀使用注意事項
★高阻測量一定要嚴格按使用方法步聚進行，否則有可能造成儀器*損壞或電人。
7.1 應(yīng)在“Rx”兩端開路時調(diào)零（主機開機）
如接在電阻箱或被測量物體上時調(diào)零后測量會產(chǎn)生很大的誤差。一般一次調(diào)零后在測試過程中不需再調(diào)零，但改變測量電壓后可能要重新調(diào)零。
7.2 禁止將“Rx”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊
7.3 在測試過程中不要隨意改動測量電壓，
★隨意改動測量電壓可能因電壓的過高或電流過大損壞被測試器件或測試儀器，而且有的材料是非線性的，即電壓與電流是不符合歐姆定律，有改變電壓時由于電流不是線性變化，所以測量的電阻也會變化。
7.4 測量時從低次檔逐漸拔往高次檔
★每撥一次稍停留1～2秒以便觀察顯示數(shù)字，當有顯示值時應(yīng)停下，記錄當前的數(shù)字即是被測電阻值。若顯示“1”時，表示欠量程應(yīng)往高次檔拔。直到有顯示數(shù)字時為止。當有顯示數(shù)字時不能再往高次檔撥，否則有可能損壞儀器(機內(nèi)有過電流保護電路)。除104 Ω檔之外，當顯示低于1.99，表示過量程應(yīng)換低檔!
7.5 大部分絕緣材料，特別是防靜電材料的電阻值在加電壓后會有一定變化而引起數(shù)字變化
★由于本儀器的分辯率很高，因而會引起顯示值的末尾幾位數(shù)也變化，這不是儀器本身的問題，而是被測量對象的導電機理復雜而使得阻值有些變化。在這種情況下往往取2位有效數(shù)就夠了。
7.6 接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分
★本儀表有二連根線:高壓線(紅)和微電流測試線。在使用時要注意高壓線，開機后人不能觸及高壓線，以免電人或麻手。
7.7 測試過程中不能觸摸微電流測試端
★微電流測試端zui怕受到大電流或人體感應(yīng)電壓及靜電的沖擊。所以在開機后和測試過程中不能與微電流測試端接觸，以免損壞儀表。
7.8 在測量高阻時，應(yīng)采用屏蔽盒將被測物體屏蔽.
★在測量大于1010 Ω以上時，為防止外界干擾面而引起讀數(shù)不穩(wěn)。
7.9 每次測量完時應(yīng)將量程開關(guān)撥回“104 ”檔再進行下次測試
在測量時應(yīng)逐漸將量程開關(guān)撥到高阻檔，測量完時應(yīng)將電流電阻量程、電壓量程開關(guān)撥回低檔。以 確保下次開機時量程開關(guān)處在低阻量程檔。
★人體一般可以帶上幾千甚至幾萬伏靜電！
高絕緣材料固體體積表面電阻率測試儀是一臺能測量*電阻和非常微弱電流的精密儀器是因為機器內(nèi)有一個超高性能的靜電計放大器，盡管儀器有多種保護措施，這個超高性能的靜電放大器在以下這些不正確操作使用中均可能因過大電流沖擊、過電壓或放電等*損壞或降低其測量精度與性能。
測試過程 | 不正確的操作方式 | 后果 | 是否閱讀 |
開機前
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沒有將電壓撥至10V，電阻電流量程檔撥至104
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過電流沖擊造成儀器放大器過電流而損壞
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測試過程
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隨意調(diào)節(jié)后面板電壓量程而改變測試電壓
| 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞
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測試過程 | 改變屏蔽箱上體面電阻，表面電測測試開關(guān) | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞 |
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測試過程 | 測試電壓過高，導致測試材料擊穿 | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測量性能降低 |
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測試過程 | 微電流測量線與高壓線短路 | 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測量性能降低 |
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測試完成
| 未將電壓量程撥至10V，電阻電流量程檔撥至104進行關(guān)機。
| 過電流或反向放電沖擊造成儀器過電流而損壞或測量性能降低 |
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