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吉時(shí)利Keithley數(shù)字源表

滿足您的所有生產(chǎn)測試需求，在同一空間內(nèi)有兩條*隔離的寬動態(tài)源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6½ 位精確分辨率源，在小于 100 µs 脈沖寬度和設(shè)定值的 0.1% 范圍內(nèi)，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

使用 2600B 簡化 FET 測試

特點(diǎn)

• 在同一空間內(nèi)可有 2 條通道
• 寬的電壓和電流動態(tài)范圍
• 高度準(zhǔn)確的 100 µs 脈沖可擴(kuò)展直流生產(chǎn)測試能力

嵌入式腳本提供的生產(chǎn)吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序，

使用 2600B 系列進(jìn)行二極管生產(chǎn)測試

特點(diǎn)

• 消除與 PC 之間耗時(shí)的總線通信
• 高級數(shù)據(jù)處理和流量控制
• 通用型探頭/處理程序控制

吉時(shí)利Keithley數(shù)字源表系統(tǒng)性能，無主機(jī)

TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達(dá) 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機(jī)）。 <500 ns 時(shí)所有通道同時(shí)獨(dú)立受控。

使用 Keithley 2600B 系列儀器增加多引腳設(shè)備的生產(chǎn)吞吐量

特點(diǎn)

• 支持 <500 ns 通道間同步
• 可達(dá) 32 條或 64 條獨(dú)立 SMU 通道
• 隨著測試要求變化輕松重新配置