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SNA5082X-SNA5052X鼎陽矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
  • SNA5082X-SNA5052X鼎陽矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
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貨物所在地:江蘇蘇州市

更新時間:2024-09-16 21:00:06

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SNA5052X鼎陽矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀SNA5000X系列,頻率范圍:9 kHz ~ 4.5/8.5 GHz,輸出功率設(shè)置范圍: -55 dBm ~ +10 dBm
動態(tài)范圍:125 dB ,支持2/4端口S參數(shù)測量、差分(平衡)測量、時域分析,支持濾波器插入損耗、帶寬、Q值等一鍵測量
支持端口阻抗轉(zhuǎn)換、端口擴(kuò)展、夾具仿真和去嵌入功能

型號
頻率范圍
端口數(shù)
動態(tài)范圍
跡線噪聲
輸出功率范圍
參考價(含稅)
SNA5052X
9 kHz~4.5 GHz
2
125 dB
0.003 dB rms,0.03° rms
-55 dBm ~ +10 dBm
¥69,980
SNA5082X
9 kHz~8.5 GHz
2
125 dB
0.003 dB rms,0.03° rms
-55 dBm ~ +10 dBm
聯(lián)系詢價
SNA5054X
9 kHz~4.5 GHz
4
125 dB
0.003 dB rms,0.03° rms
-55 dBm ~ +10 dBm
聯(lián)系詢價
SNA5084X
9 kHz~8.5 GHz
4
125 dB
0.003 dB rms,0.03° rms
-55 dBm ~ +10 dBm


SNA5052X鼎陽矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀低噪聲,高動態(tài)范圍系統(tǒng)動態(tài)范圍是VNA一個非常重要的指標(biāo),它是VNA源的最大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。SNA5000X的動態(tài)范圍可達(dá)125 dB@10Hz IFBW,接收機(jī)噪底-125 dBm/Hz,可適用于對動態(tài)范圍要求比較高的測試場景,比如同時測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。

從S參數(shù)測試到平衡-不平衡測試SNA5000X系列支持在多個窗口添加多條跡線進(jìn)行全4端口S參數(shù)測試,并且具備多種顯示格式,比如 Log Mag,Lin Mag,Phase,Delay,Smith,SWR,Polar等,可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù),反射系數(shù),駐波比,阻抗匹配,相位,延時等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗(yàn)證天線,濾波器等的特性時,還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進(jìn)行通過失敗測試,有利于提高生產(chǎn)效率。



SNA5052X鼎陽矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

時域分析功能SNA5000X系列支持TDR時域反射計測量功能,可在時域?qū)鬏斁€的特征阻抗,時延等參數(shù)進(jìn)行分析。

眼圖分析SNA5000X搭載了眼圖功能,眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征,從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響,進(jìn)而估計系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心,為需要對高速信號進(jìn)行時域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時間。
消除夾具效應(yīng)在微波射頻領(lǐng)域,如何有效消除有害的測試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進(jìn)行測試時需要特定的測試夾具實(shí)現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接,導(dǎo)致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有:端口延伸,端口匹配,端口阻抗轉(zhuǎn)換,去嵌入,適配器移除等。
校準(zhǔn)件校準(zhǔn)是VNA進(jìn)行可靠測量前必須進(jìn)行的步驟。鼎陽科技目前可提供8種SOLT機(jī)械校準(zhǔn)件,分為經(jīng)濟(jì)級校準(zhǔn)件和精密級校準(zhǔn)件。校準(zhǔn)頻率范圍涵蓋DC~9 GHz,接口類型包含SMA和N型。并且SNA5000X系列還可支持其他廠家的校準(zhǔn)件及客戶自定義校準(zhǔn)件的導(dǎo)入,從而保護(hù)客戶對校準(zhǔn)件的投資。



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