低阻雙電四探針測(cè)試儀可以測(cè)試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的Z小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)...

高阻四探針測(cè)試儀 本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用，通過(guò)不同的測(cè)量治具滿足不同環(huán)境溫度下測(cè)量方阻和電阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理...

高溫雙電測(cè)四探針?lè)阶铚y(cè)試儀使用說(shuō)明，采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決半...

雙電四探針?lè)阶铚y(cè)試儀分析方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料四...

硅片四探針電導(dǎo)率測(cè)試儀操作方法，參照標(biāo)準(zhǔn)：硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.

高溫四探針電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè)， 采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控。用于：企業(yè)、高等院校、科研部...

涂布層四探針測(cè)試儀計(jì)算公式，本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)...

雙電四探針電阻率詳情介紹，本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配...

雙電測(cè)電四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀參數(shù)，本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針...

薄膜方塊電阻率測(cè)試使用說(shuō)明，本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置...

普通四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀軟件操作，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安...

普通四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀現(xiàn)貨，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口。本儀器本儀器采用四探針單電測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料...

導(dǎo)電涂層四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀，按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、...

PCB銅箔膜四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀，按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法...

高溫四探針電阻測(cè)試儀，該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，...

涂布層四探針電阻率測(cè)試儀操作手冊(cè)，采用四探針組合雙電測(cè)量方法，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和...

導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀計(jì)量方法，本儀器本儀器采用四探針測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體粉末材料和半導(dǎo)體粉末材料質(zhì)量的一種重要的工具液晶顯...

金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡(jiǎn)稱方阻）...

四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀檢測(cè)范圍，四探針組合雙電測(cè)量方法，2.液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.

金屬涂層四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀使用方法，參照標(biāo)準(zhǔn)：硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）.GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.GB/T1551-...