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產(chǎn)品簡介

香蕉型數(shù)顯測厚儀
新型的麥考特提供數(shù)顯磁性測量涂層度方法，具有高精度測量和簡單易用。
測量方法仍然按所有標準規(guī)定的磁場原理。
傳統(tǒng)香蕉型測厚儀提供一個詢問格式測量顯示
數(shù)顯、將儀器詢問要求必變成一個非常有用的工具。當測量時，顯示讀數(shù)分度為1或0.5µm,亦有利于準確測量厚涂層.

詳細介紹

香蕉型數(shù)顯測厚儀

一、介紹：

新型的麥考特提供數(shù)顯磁性測量涂層度方法，具有高精度測量和簡單易用。

測量方法仍然按所有標準規(guī)定的磁場原理。

傳統(tǒng)香蕉型測厚儀提供一個詢問格式測量顯示

數(shù)顯、將儀器詢問要求必變成一個非常有用的工具。當測量時，顯示讀數(shù)分度為1或0.5μm,亦有利于準確測量厚涂層.

不需要校正,所有儀器出廠時已預設(shè)定以保證獲得整個量程中的zui高精度測量值.

二、特點

◇確保測量準則

◇不需校正

◇測量值精度高

◇

◇測量范圍到15mm

	Mikrotest7G	Mikrotest7F	Mikrotest7S5	MikrotestS15
測量范圍(公制)	0～300μm	0～15mm	0.5～5.0mm	3.0～15.0mm
誤差	2μm±3%	5μm±3%	±4%	±4%
分辨率	0.5μm/0.02mils	1μm/0.05mils	5μm/0.2mils	20μm/100mils
zui小測量區(qū)域	5mm/25mm	8mm/25mm	15mm/25mm	100mm/150mm
zui小基材厚度	0.5mm	0.5mm	1mm	7mm
電源	6V 4LR44
環(huán)境溫度	-10℃～50℃
尺寸(mm)	210×58×32mm
重量(克)	200g

產(chǎn)品名稱：香蕉型測厚儀
產(chǎn)品型號： MIKROTEST
產(chǎn)品產(chǎn)地：英國 Sheen
用于測量鋼鐵表面涂層厚度；
zui高可測量 20mm 厚涂層及金屬底材鍍鎳涂層
測量范圍： 0-100um,0-1000um,200um-3mm
500um-5mm,2.5-10mm,7.5-20mm, 銅 / 鐵底材、 0-50um 鎳涂層厚度；
操作十分簡便；
標準符合： ISO 2808, ASTM - D 1186.
有 12 種型號可供選擇，其中：
型號為 MikroTest 6 G 的測量范圍是 0~100um ，公差± 1um 或讀數(shù)的 5 ％，zui小測量面積（直徑） 20mm ，zui小凸面 / 凹面曲率 5mm/25mm ，底材的zui小厚度 0.5 mm 。該型號測厚儀無需電池，表盤式讀數(shù)，也不需要校準。磁感應測量原理。
型號為 MikroTest 7 G 的測量范圍是 0~300um ，公差± 3um 或讀數(shù)的 3 ％，分辨率是 0.5um ，zui小測量面積（直徑） 20mm ，底材的zui小厚度是 0.5mm 。磁感應測量原理。該型號測厚儀需要 6V4LR44 電池供電，數(shù)顯式讀數(shù)。無需校準。

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