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電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

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自由跌落測試儀

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產(chǎn)　　地：
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2024年11月8日
2025年5月11日
廣東東莞市
106次

【產(chǎn)品簡介】

自由跌落測試儀標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000、SJ/T 11169-1998、SJ/T 11170-1998、YD 1268-2003、YD 1268.2-2003、GB 8897.4-2002、QB/T 2502-2000、QB/T 2947.3-2008、QC/T 743-2006、QC/T 744-2006、GB/T 18333.1-2001。

【詳細(xì)說明】

自由跌落測試儀

一、自由跌落測試儀用途：本機(jī)用于電池、包裝箱、MP3等電子制品及零部件之自由跌落測試。

二、標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000、SJ/T 11169-1998、SJ/T 11170-1998、YD 1268-2003、YD 1268.2-2003、GB 8897.4-2002、QB/T 2502-2000、QB/T 2947.3-2008、QC/T 743-2006、QC/T 744-2006、GB/T 18333.1-2001、HEV、EV等測試標(biāo)準(zhǔn)。

三、主要技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型號：HE-F-315S、HE-F-320S

跌落高度：300～1500MM、300～2000MM

整機(jī)尺寸：W700*D900*H1760MM、W700*D900*H2260MM


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東莞市豪恩檢測儀器有限公司

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