宇時UM-1超聲波測厚儀 返回列表頁

宇時UM-1超聲波測厚儀

宇時UM-1超聲波測厚儀的技術參數(shù):

·工作原理：脈沖～回波方式。

·測量范圍：0.8～300mm（取決于所用探頭,材料,表面狀況）。

·材料聲速范圍：1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/µs。

·單位和顯示分辨率：0.1mm/0.01"。

·示值誤差：±0.1mm（≤10mm）；±0.5%H+0.01（≥10mm）,H為被測物厚度。

·重復性：±0.1mm。

·探頭零點校準：一點校準（用于常規(guī)的厚度測量）；兩點校準（測量曲面壁厚或特殊應用時，可顯著提高測量精度）。

·V路徑修正：自動V聲程修正，補償雙晶探頭的非線性度。

·顯示屏：128*64點陣液晶屏42*57mm, 具有EL背光；

·可調節(jié)對比度,厚度值數(shù)字高度可達13.75mm。

·測量刷新頻率：常規(guī)測量時4Hz，zui小值掃查時25Hz。

·數(shù)據(jù)存儲：劃分5個數(shù)組，可存儲500個厚度值。

·工作語言：中文、英文。

·電源：兩節(jié)1.5VAA電池,當電池電量不足時，有低電壓提示。

·操作時間：兩節(jié)5號電池，使用時間可達200小時。

·自動關機：5分鐘無操作后自動關機。

·工作溫度：-10℃～+50℃，有特殊要求可達-20℃。

·尺寸：149*73*32mm（H*W*D）。

·重量：含電池200g。

的標準配置:

·測厚儀主機1臺,

·標配探頭1只,

·堿性電池2節(jié),

·耦合劑1瓶,

·操作手冊1本,

·合格證1份。

的可選配件:

·橡膠外套；

·可供選擇的探頭；

·校準用階梯試塊；

·耦合劑及高溫耦合劑。

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