上海量博實業(yè)有限公司
主營產(chǎn)品: 粗糙度輪廓儀,圓柱度測量儀,CORNING平面度測量儀,ROMER關(guān)節(jié)臂三坐標,軼諾INNOVATEST布洛維氏硬度計 |
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- 上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號5號樓311室
- 郵編:
- 200131
- 網(wǎng)址:
- www.labgages.com
參考價 | 面議 |
- 型號 OmniScan SX
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 所在地 上海市
更新時間:2016-11-30 02:32:27瀏覽次數(shù):689
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美國 Olympus超聲波探傷儀OmniScan SX
美國 Olympus超聲波探傷儀OmniScan SX概述:
OmniScan SX超聲波探傷儀是一款積累了20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗,體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器,OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器,針對檢測要求較低的應用,這款儀器操作極為方便,性價比*。
OmniScan SX有兩種型號:SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控陣單元,與僅具有UT通道的SX UT一樣,也配備了一個常規(guī)UT通道,可以進行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測。與OmniScan MX2相比,OmniScan SX重量輕33 %,體積小50 %,具有OmniScan產(chǎn)品*的更為輕巧便攜的性能。
OmniScan SX觸摸屏配有全屏模式選項,使清晰度達到zui大化,用戶僅需在觸摸屏上進行簡單操作,便可訪問許多菜單功能。直觀的界面使用戶可以流暢地進行菜單選擇,縮放,閘門調(diào)節(jié),光標移動以及文本和數(shù)字的輸入。以上這些特性,加上其它附加的集成功能,包括淺顯易懂的設置和校準向?qū)В附莸腟掃描和A掃描顯示更新率,和快速的脈沖重復頻率(PRF),使OmniScan SX成為一款高效的檢測工具。
OmniScan SX能與Olympus數(shù)量龐大的掃查器、探頭和附件產(chǎn)品,及其專門的配備軟件NDT SetupBuilder和OmniPC*兼容。硬件和軟件產(chǎn)品的完整結(jié)合,使檢測流程從設計、設置到采集、分析變得精簡有效。
美國 Olympus超聲波探傷儀OmniScan SX工作流程:
設計 NDT SetupBuilder | ||
您的需要…… ……Olympus解決方案 在過去的幾年中,為滿足客戶的需求,Olympus投入了大量精力創(chuàng)建了各種完整的解決方案,并將這些方案投放到市場、付諸實踐。 | 采集 OmniScan | |
數(shù)據(jù)分析和報告制作 OmniPC TomoView TomoView的性能如下:
|
美國 Olympus超聲波探傷儀OmniScan SX參數(shù):
外殼 | |
外型尺寸 (W x H x D) | 267 mm × 208 mm × 94 mm (10.5 in. × 8.2 in. × 3.7 in.) |
重量 | 3.4 kg(7.5 lb),含電池 |
數(shù)據(jù)存儲 | |
存儲裝置 | SDHC卡,或大多數(shù)標準USB存儲設備 |
數(shù)據(jù)文件容量 | 300 MB |
I/O端口 | |
USB端口 | 2個符合USB 2.0技術(shù)規(guī)格的USB端口 |
音頻報警 | 有 |
視頻輸出 | 視頻輸出(SVGA) |
I/O線 | |
編碼器 | 雙軸編碼器線(正交、向上、向下或時鐘/方向) |
數(shù)字輸入 | 4個數(shù)字TTL輸入,5 V |
數(shù)字輸出 | 3個數(shù)字TTL輸出,5 V;每個輸出zui大電流為15 mA。 |
采集開關(guān) | 有,通過對一個數(shù)字輸入進行配置的方式實現(xiàn) |
電源輸出線 | 5 V,500 mA電源輸出線(帶短路保護) |
步速輸入 | 5 V TTL步速輸入 |
顯示 | |
顯示屏尺寸 | 21.3 cm(8.4 in.) (對角線) |
分辨率 | 800像素?x ?600像素 |
亮度 | 600 cd/m2 |
觀察角度 | 水平: –80° ~ 80° 垂直: –60° ~ 80° |
顏色數(shù)量 | 1千6百萬 |
類型 | 薄膜晶體管液晶顯示屏(TFT LCD) |
電源 | |
電池類型 | 智能鋰離子電池 |
電池數(shù)量 | 1節(jié) |
電池供電時間 | 正常操作條件下,至少6小時 |
環(huán)境技術(shù)規(guī)格 | |
工作溫度范圍 | -10 °c ~ 45 °C (14 ºF ~ 113 ºF) |
存放溫度范圍 | –20 °C ~ 60 °C(–4 ºF ~ 140 ºF),含電池 –20 °C ~ 70 °C(–4 ºF ~ 158 ºF),不含電池 |
相對濕度 | 45 °C無冷凝的條件下,zui大相對濕度為70 %。 |
侵入保護評級 | 設計符合IP66評級 |
防撞擊評級 | 通過MIL-STD-810G 516.6的墜落測試 |
超聲技術(shù)規(guī)格(適用于OMNISX-1664PR) | |||
接口 | 1個相控陣接口: Olympus PA接口 2個UT接口: LEMO 00 | ||
聚焦法則數(shù)量 | 256個 | ||
探頭識別 | 自動探頭識別 |
脈沖發(fā)生器/接收器 | |||
孔徑 | 16個晶片 | ||
晶片數(shù)量 | 64個晶片 | ||
脈沖發(fā)生器 | PA通道 | UT通道 | |
電壓 | 40 V、80 V、115 V | 95 V、175 V、340 V | |
脈沖寬度 | 30 ns ~ 500 ns范圍內(nèi)可調(diào), 分辨率為2.5 ns。 | 30 ns ~ 1000 ns范圍內(nèi)可調(diào), 分辨率為2.5 ns。 | |
脈沖形狀 | 負方波 | 負方波 | |
輸出阻抗 | 35 Ω(脈沖回波模式) 30 Ω(一發(fā)一收模式) | < 30 Ω | |
接收器 | PA通道 | UT通道 | |
增益 | 0 dB~80 dB,zui大輸入信號為550 mVp-p(滿屏高) | 0 dB~120 dB,zui大輸入信號為34.5 Vp-p(滿屏高) | |
輸入阻抗 | 60 Ω(脈沖回波模式) 150 Ω(一發(fā)一收模式) | 60 Ω(脈沖回波模式) 50 Ω(脈沖發(fā)送接收模式) | |
系統(tǒng)帶寬 | 0.6 MHz~18 MHz(–3 dB) | 0.25 MHz~28 MHz(–3 dB) |
聲束形成 | |||
掃查類型 | 扇形或線性 | ||
組數(shù)量 | 1個 | ||
數(shù)據(jù)采集 | PA通道 | UT通道 | |
數(shù)字化頻率 | 每5/4個通道使用了一個插值后,為400 MHz(12比特) | 每4個通道使用了一個插值后,為400 MHz(12比特) | |
zui大脈沖速率 | 高達6 kHz(C掃描) | ||
數(shù)據(jù)處理 | PA通道 | UT通道 | |
數(shù)據(jù)點數(shù) | zui多8192個 | ||
實時平均 | PA: 2、4、8、16 | UT: 2、4、8、16、32、64 | |
檢波 | 射頻、全波、正半波和負半波 | ||
濾波 | 3個低通、3個帶通、5個高通濾波器 | 3個低通、6個帶通、3個高通濾波器(TOFD配置下為8個低通濾波器) | |
視頻濾波 | 平滑(根據(jù)探頭頻率范圍調(diào)節(jié)) |
數(shù)據(jù)顯示 | |||
A掃描刷新率 | A掃描: 60 Hz; S掃描: 60 Hz |
數(shù)據(jù)同步 | |||
根據(jù)內(nèi)部時鐘 | 1 Hz~6 kHz | ||
根據(jù)編碼器 | 雙軸: 1步~65536步 |
可編程的時間校正增益(TCG) | |||
點數(shù) | 16個: 每個聚焦法則有一條TCG (時間校正增益)曲線 | ||
zui大斜率 | 40 dB/10 ns |
報警 | |||
報警數(shù)量 | 3個 | ||
條件 | 閘門的任意邏輯組合 |
美國 Olympus超聲波探傷儀OmniScan SX應用:
組件檢測
組件檢測利用超聲技術(shù),可以探測到裂縫、壁厚減薄以及其它各種缺陷。OmniScan SX既可以使用角度聲束,也可以使用線性零度聲束,因此成為完成這類單組檢測應用的一個性價比*的解決方案。
相控陣焊縫檢測
OmniScan PA是Olympus公司為石油和天然氣工業(yè)開發(fā)的手動和半自動相控陣焊縫檢測解決方案的核心。這些系統(tǒng)不僅可用于符合ASME、API及其它規(guī)范標準的檢測,而且還具有高速探測、便于缺陷指示判讀的特性。
腐蝕成像和復合材料檢測
隨著OmniScan SX的出現(xiàn),零度檢測變得更為簡便易行。在腐蝕或復合材料的檢測應用中,Olympus可提供探測材料中異?,F(xiàn)象或壁厚損失的經(jīng)過實地驗證的解決方案。
TOFD焊縫檢測
在主要探測焊縫缺陷的應用中,TOFD是一種簡便易行、效率*的檢測方法。這種方法不僅可以快速定量在焊縫體積中發(fā)現(xiàn)的缺陷(焊縫通常是制造缺陷高發(fā)的地帶),且其性價比*。
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