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上海量博實業(yè)有限公司
主營產(chǎn)品： 粗糙度輪廓儀,圓柱度測量儀,CORNING平面度測量儀,ROMER關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo),軼諾INNOVATEST布洛維氏硬度計 |
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- 郵編：
- 200131
- 網(wǎng)址：
- www.labgages.com
| 參考價 | 面議 |
- 型號 TP200
- 品牌 RENISHAW/英國雷尼紹
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 所在地 上海市
更新時間：2017-07-18 02:03:11瀏覽次數(shù)：842
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TP200三坐標(biāo)觸發(fā)式測頭
TP200三坐標(biāo)觸發(fā)式測頭簡介：
英國雷尼紹Renishaw TP200觸發(fā)式三坐標(biāo)測頭系統(tǒng)具有模塊交換功能的超小型應(yīng)變片式測頭。
TP200觸發(fā)式三坐標(biāo)測頭系統(tǒng)組件包括：
1. TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差） 2. TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測力）或LF（低測力） 3. PI 200測頭接口 4. SCR200測針交換架 還有一種EO模塊（長超程），超程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。
TP200三坐標(biāo)測頭系統(tǒng)特性與優(yōu)點 1. 應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和的三維輪廓測量 2. 零復(fù)位誤差 3. 無各向同性影響 4. 六向測量能力 5. 測針測量距離達100 mm（GF測針） 6. 快速測頭模塊交換，無需重新標(biāo)定測尖 7. 壽命 >1 000萬次觸發(fā) |  |
TP200 / TP200B測頭本體 TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。 傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。 TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。 請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。 |  |
Renishaw TP200三坐標(biāo)測頭技術(shù)規(guī)格:
摘要 | TP200 | TP200B |
| 主要應(yīng)用 | 需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測量機 | 與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時 |
| 傳感器方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
| 單向重復(fù)性 (2s µm) | 觸發(fā)水平1：0.40 µm 觸發(fā)水平2：0.50 µm | 觸發(fā)水平1：0.40 µm 觸發(fā)水平2：0.50 µm |
| XY（2D）輪廓形式測量偏差 | 觸發(fā)水平1：±0.80 µm 觸發(fā)水平2：±0.90 µm | 觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.2 µm |
| XYZ (3D) 輪廓測量偏差 | 觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.40 µm | 觸發(fā)水平1：±2.50 µm 觸發(fā)水平2：±4 µm |
| 測針交換的重復(fù)性 | SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動：±1 µm（zui大） | SCR200：±0.50 µm（zui大） 手動：±1 µm（zui大） |
| 測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
| 超程測力（位移為0.50 mm時） | XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
| 重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
| zui長加長桿（如配在PH10系列測座上） | 300 mm | 300 mm |
| 推薦的zui大測針長度（M2測針系列） | SF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
| 安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
| 適合的接口 | PI200、UCC | PI200、UCC |
| 測針模塊交換架 | 自動：SCR200 手動：MSR1 | 自動：SCR200 手動：MSR1 |
| 測針系列 | M2 | M2 |
TP200測針模塊：
測針模塊通過高重復(fù)性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭超程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的超程測力。
| 模塊 | SF（標(biāo)準(zhǔn)測力） | LF（低測力） | EO（長超程） |
| 應(yīng)用 | 一般使用 | 小直徑測球或必須使用zui小測力的場合。 | 額外超程使坐標(biāo)測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
| 備注 | 測針zui長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm | 與SF的超程測力相同。 |
雷尼紹SCR200測頭交換架：
SCR200可對zui多六個TP200測針模塊進行自動高速交換。SCR200由獨立的測頭接口 — PI200供電，并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標(biāo)準(zhǔn)測力組件，每一種套件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊。 SCR200交換架規(guī)格： 高度：190mm； 寬度：245mm。 |  |
測針模塊交換：
TP20和TP200測頭具有測針模塊交換功能，生產(chǎn)效率更高，并且總能選擇應(yīng)用的測量系統(tǒng)。 減少循環(huán)時間 — 模塊交換時間約為6秒，相比之下手工交換需要1分鐘（還有重新標(biāo)定時間）。 XY平面碰撞保護裝置 — 測針模塊在發(fā)生碰撞時會分離。 模塊可以安全地存放在交換架上。 |  |
