SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀 高靈敏度、高精度的測量 *表征單一體系納米尺度粒子 *解析納米粒子的物質結構 技術參數(shù): ■ 粒子直徑測定 ? ● 超寬動態(tài)光散射測量范圍: 0.3nm~8000nm ? ● 通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關器,實現(xiàn)高性能化。 ? ● 在單一納米粒子光學系統(tǒng)中,采用更低雜散光90°檢測光學系統(tǒng)。 ? ● 雙光路系統(tǒng)(90°和173°)適用于更寬濃度范圍的樣品測量,可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。 ■ Zeta電位測定 ? ● 通過安裝HORIBA自主研發(fā)的標準微型樣品池,可以測定僅100μL的樣品。 ■ 主要特點: ● 超小體積設計 ● 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。 ● 樣品濃度從PPM到百分之幾十,SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定。 ● HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池, 可以測定僅100μL的Zeta電位。 ● 廣泛應用于膠質粒子、 機能性納米粒子、 高分子、膠束、 核糖體、 納米囊等的測定。 ● 操作簡單,進樣、設定參數(shù)后,只要按開始按鈕即可得到測量結果。 |