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[供應]SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀
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  • SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀
貨物所在地:
上海上海
更新時間:
2022-10-30 21:00:07
有效期:
2022年10月30日 -- 2023年4月30日
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產(chǎn)品簡介

高靈敏度、高精度的測量
*表征單一體系納米尺度粒子
*解析納米粒子的物質結構

詳細介紹

產(chǎn)品介紹:

       

                    SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

 

 

 

 

 

高靈敏度、高精度的測量                         
*表征單一體系納米尺度粒子
*解析納米粒子的物質結構

技術參數(shù):

■  粒子直徑測定
?  ●  超寬動態(tài)光散射測量范圍: 0.3nm~8000nm
?  ●  通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關器,實現(xiàn)高性能化。
?  ●  在單一納米粒子光學系統(tǒng)中,采用更低雜散光90°檢測光學系統(tǒng)。
?  ●  雙光路系統(tǒng)(90°和173°)適用于更寬濃度范圍的樣品測量,可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。
■  Zeta電位測定
?  ●  通過安裝HORIBA自主研發(fā)的標準微型樣品池,可以測定僅100μL的樣品。

■  主要特點:    
     ●  超小體積設計
     ●  可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。
     ●  樣品濃度從PPM到百分之幾十,SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定。
     ●  HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池, 可以測定僅100μL的Zeta電位。
     ●  廣泛應用于膠質粒子、 機能性納米粒子、 高分子、膠束、 核糖體、 納米囊等的測定。
     ●  操作簡單,進樣、設定參數(shù)后,只要按開始按鈕即可得到測量結果。

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