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涂層測(cè)厚儀通俗測(cè)試方法
閱讀：1216 發(fā)布時(shí)間：2014-9-2
涂層測(cè)厚儀通俗測(cè)試方法
AH211涂層測(cè)厚儀是測(cè)量材料厚度，找到隱藏的內(nèi)部缺陷，或分析金屬、塑料、復(fù)合材料、陶瓷、橡膠及玻璃的材料屬性。超聲儀器使用超出人耳聽力范圍的頻率，生成耦合到試件的短脈沖聲能，然后通過監(jiān)控并分析反射的或傳送的波型得出檢測(cè)結(jié)果。
涂層測(cè)厚儀通俗測(cè)試方法一:
1、相控陣檢測(cè)是一種特殊類型的超聲檢測(cè)，它使用完善的多晶片陣列探頭及強(qiáng)大的軟件，控制高頻聲束在試件中傳播的方向并生成回波圖像，從而生成與醫(yī)學(xué)超聲圖像 相似的材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)詳圖。
2、它用于檢測(cè)重要的結(jié)構(gòu)金屬、管道焊縫、航空組件，并用于其它由相控陣檢測(cè)提供附加信息的相似應(yīng)用。
方法二:渦流和渦流陣列檢測(cè)
1、渦流檢測(cè)使用電磁感應(yīng)原理，定位近表面的裂紋、測(cè)量厚度以及對(duì)金屬中的某些材料屬性進(jìn)行分類。
2、渦流探頭生成磁場(chǎng)，涂層測(cè)厚儀可在測(cè)試材料內(nèi)感應(yīng)生成以圓形軌跡流動(dòng)的 電流。試件材料完整性或厚度的改變會(huì)依次影響電流、磁場(chǎng)、以及線圈中的電壓強(qiáng)度和電壓相位。
3、儀器監(jiān)控探頭輸出并顯示用于分析的信息。渦流陣列系統(tǒng)使用多種 探頭以擴(kuò)大其檢測(cè)覆蓋區(qū)域，提高成像能力。