概述

近場探頭由TH20，H10，H5和E5是磁場（H）和電場（E）探頭，用于輻射發(fā)射EMC預一致性測量。探頭用于電磁輻射源的近場。它們用于在電子組件的構(gòu)造塊中定位和識別潛在的干擾源。近場探頭的作用類似于寬帶天線，用于拾取組件，PCB跡線，外殼開口或縫隙以及可能發(fā)射射頻的任何其他部件的輻射。近場探頭通常連接到頻譜分析儀。

近場探頭可用于維修或調(diào)試領(lǐng)域，以通過減少接觸式RF測量來跟蹤RF信號鏈中的問題。信號電平。另一種應用是對射頻構(gòu)件（例如調(diào)制器或振蕩器）的*測量。頻率，相位噪聲和頻譜分量可以與低噪聲前置放大器一起測量。

探頭尺寸：

頻率響應：

耦合衰減：