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CEM華盛昌DT-156涂層測(cè)厚儀
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2025年3月5日
- 2025年9月5日
- 上海上海市
- 香港
- 111次
【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
【詳細(xì)說(shuō)明】
CEM華盛昌DT-156涂鍍層測(cè)厚儀
【產(chǎn)品描述】
DT-156涂鍍層測(cè)厚儀探頭可以在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下工作。在自動(dòng)模式（AUTO）下，兩種原理可視測(cè)量的基體自動(dòng)轉(zhuǎn)換，或可通過(guò)菜單進(jìn)行自動(dòng)模式和非自動(dòng)模式轉(zhuǎn)換。
CEM華盛昌DT-156涂鍍層測(cè)厚儀【產(chǎn)品特性】
1、可測(cè)量涂鍍層： 任何磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度；任何非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度
2、易于操作的菜單設(shè)計(jì)
3、連續(xù)和單次測(cè)量方式
4、直接工作模式和組工作模式
5、可統(tǒng)計(jì)并顯示：平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)方差、統(tǒng)計(jì)數(shù)
6、非常方便的進(jìn)行一點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)
7、可保存320個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)
8、USB傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析統(tǒng)計(jì)
9、實(shí)時(shí)刪除測(cè)量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)
10、高低限報(bào)警
11、低電和錯(cuò)誤提示可設(shè)置的自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
CEM華盛昌DT-156涂鍍層測(cè)厚儀【技術(shù)指標(biāo)】
傳感器探頭 | 鐵磁性 | 非鐵磁性 |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 渦流 |
測(cè)量范圍 | 0~1250um | 0~1250um |
| 0~49.21mil | 0~49.21mils |
誤差 | 0~850 um (+/- 3%+1um) | 0~850 um(+/- 3%+1.5um) |
(相對(duì)當(dāng)前讀數(shù)) | 850um~1250um (+/- 5%) | 850um~1250 um (+/- 5%) |
| 0~33.46 mils (+/- 3%+0.039mils) | 0~33.46mils (+/- 3%+0.059mils) |
| 33.46um~49.21mils (+/- 5%) | 33.46um~49.21mils (+/- 5%) |
精度 | 0~50um (0.1um) | 0~50um (0.1um) |
| 50um~850um(1um) | 50um~850um(1um) |
| 850um~1250um(0.01mm) | 850um~1250um(0.01mm) |
| 0~1.968mils (0.001mils) | 0~1.968mils (0.001mils) |
| 1.968mils~33.46mils(0.01mils) | 1.968mils~33.46mils(0.01mils) |
| 33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
單位換算：
1、mil（PCB或晶片布局的長(zhǎng)度單位）：1 mil =千分之一英寸，1mil = 0.0254mm。
2、um有時(shí)也做微米（單位）使用，1mm（毫米）=1000um（微米) 1um=1000nm(納米）。
使用方法
1、工作模式：
1-1.AOTO：探頭根據(jù)待測(cè)物體性質(zhì)(鐵磁性物質(zhì)或非鐵磁性金屬)自動(dòng)轉(zhuǎn)入相應(yīng)工作模式。如果待測(cè)物體是鐵鎳等磁性金屬物質(zhì)，探頭將轉(zhuǎn)入磁感應(yīng)原理工作模式；如果待測(cè)物體時(shí)非磁性的金屬物質(zhì)，探頭將轉(zhuǎn)入渦流原理工作模式。
1-2.Fe：探頭將是磁感應(yīng)原理工作模式。
1-3.No-Fe：探頭將是渦流原理工作模式。
2、直接測(cè)量(DIR)：開(kāi)機(jī)默認(rèn)為此模式。用于快速隨意測(cè)量。在此模式下，測(cè)量數(shù)據(jù)會(huì)臨時(shí)保存在內(nèi)存中，可以通過(guò)菜單瀏覽所有已存數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值，但一旦關(guān)機(jī)、系統(tǒng)掉電或從直接測(cè)量模式切換到組工作模式，這些數(shù)據(jù)將會(huì)丟失。此模式下，zui多可統(tǒng)計(jì)80個(gè)數(shù)據(jù)，超出的讀數(shù)將替換zui舊讀數(shù)并保存更新統(tǒng)計(jì)值。
3、組測(cè)量(GR01～GR04)：每一組工作模式下，系統(tǒng)可保存zui多80個(gè)數(shù)據(jù)，5個(gè)統(tǒng)計(jì)值。關(guān)機(jī)和掉電，所有保存值不會(huì)丟失，并且組與組之間相互獨(dú)立不受影響，需要?jiǎng)h除保存的值，可通過(guò)菜單操作進(jìn)行。當(dāng)測(cè)量數(shù)據(jù)超出80個(gè)，數(shù)據(jù)測(cè)量可以繼續(xù)進(jìn)行，但是所有數(shù)據(jù)將不被保存和統(tǒng)計(jì)計(jì)算。如有需要，可通過(guò)菜單刪除組數(shù)據(jù)。
4、讀數(shù)瀏覽：通過(guò)“Measurement view”菜單項(xiàng)，瀏覽當(dāng)前工作組所有測(cè)量讀數(shù)。
5、測(cè)量中的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)：厚度統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可統(tǒng)計(jì)80個(gè)讀數(shù)(GR01～GR04總共zui多可存儲(chǔ)4*80=320個(gè)讀數(shù))。此外，在DIR模式除了讀數(shù)不存儲(chǔ)外，其他和GRO模式相同。
NO.：開(kāi)機(jī)以來(lái)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)的讀數(shù)個(gè)數(shù)
AVG：平均值
Sdev：標(biāo)準(zhǔn)方差
MAX：zui大讀數(shù)
MIN：zui小讀數(shù)
包裝清單
涂鍍層測(cè)厚儀*1使用說(shuō)明書(shū) *1合格證 *1電池*2硬盒*1彩盒*1 USB連接線纜*1軟件CD*1探頭*1鋼鐵基體*1鋁塊基體*1標(biāo)準(zhǔn)薄片*2
