電子產(chǎn)品做溫度沖擊試驗(yàn)的原因

              電子產(chǎn)品做溫度沖擊試驗(yàn)的原因

     溫度沖擊試驗(yàn)箱是指在電子產(chǎn)品上施加快速變化的溫度，用以暴露產(chǎn)品在低于溫度變化條件下會(huì)出現(xiàn)的潛在缺陷。在電子產(chǎn)品的研制過程中，會(huì)因各種原因?qū)е氯毕莸陌l(fā)生。例如：使用了缺陷的元器件、 零部件、外包外協(xié)件，工藝規(guī)定不完善，制造過程的不正確操作和不規(guī)范的施工工序等，都會(huì)給電子產(chǎn)品的可靠性帶來影響。

     是可以通過常規(guī)檢驗(yàn)方法(如目測(cè)、常溫加電考機(jī)和功能測(cè)試)來排除，而有些缺陷用常規(guī)方法無法檢查出來，被稱為潛在缺陷。如果在產(chǎn)品交付前不剔除這些潛在缺陷，zui終將導(dǎo)致后期使用的問題暴露。溫度沖擊試驗(yàn)是針對(duì)電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能遇到的溫度環(huán)境及應(yīng)力強(qiáng)度，選擇zui能激發(fā)其潛在缺陷的溫度，用以確定產(chǎn)品在經(jīng)受周圍大氣溫度的急劇變化(溫度沖擊)時(shí)，產(chǎn)品是否產(chǎn)生物理?yè)p壞或性能下降使?jié)撛谌毕菁铀侔l(fā)展成為早期故障，剔除元器件、部件的早期失效及暴露設(shè)計(jì)和制造工藝的不足， 使產(chǎn)品的可靠性更接近實(shí)際需要，從而保證和提高電子產(chǎn)品的可靠性。

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（下圖為東莞科文溫度沖擊試驗(yàn)箱實(shí)物圖）