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中級(jí)會(huì)員 | 第13年

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吉時(shí)利2410測(cè)量電鏡中的被測(cè)件（如何去除積累電荷對(duì)測(cè)量的影響）

時(shí)間：2019/7/11閱讀：1373
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吉時(shí)利2410 SourceMeter SMU 儀器，測(cè)量電鏡中的被測(cè)件（如何去除積累電荷對(duì)測(cè)量的影響）

問(wèn)題:

吉時(shí)利2410 SourceMeter SMU 儀器，測(cè)量電鏡中的被測(cè)件（如何去除積累電荷對(duì)測(cè)量的影響）

回答:

4200系統(tǒng)測(cè)量時(shí)可以直接進(jìn)行處理使得電荷放電至地點(diǎn)。
單臺(tái)源表做類似測(cè)量時(shí)，先加載0V電壓源測(cè)量I，將線路導(dǎo)通放電；延遲一段時(shí)間后，在加載需要的電壓進(jìn)行正常的測(cè)量。

此常見(jiàn)問(wèn)題適用于：

Product Series: Keithley SMU 2400 圖形系列 SourceMeter, 2400 系列 SMU

Product: 2400

常見(jiàn)問(wèn)題ID : 473396

 

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