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SEM/AFM-DME原子力顯微鏡高精度工作臺
  • SEM/AFM-DME原子力顯微鏡高精度工作臺
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貨物所在地:北京北京市

地: 丹麥

更新時(shí)間:2024-10-05 21:00:07

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DME原子力顯微鏡高精度工作臺適用于蔡司FE-SEMs 和SEM/AFM混合體系
高精度工作臺:在亞微米的樣品定位精度下尋找和發(fā)現(xiàn)你的目標(biāo)區(qū)域(ROI)
DME原子力顯微鏡高精度工作臺:
適用于蔡司FE-SEMs 和SEM/AFM混合體系
高精度工作臺:在亞微米的樣品定位精度下尋找和發(fā)現(xiàn)你的目標(biāo)區(qū)域(ROI)
樣品定位是流暢和有效工作流程的關(guān)鍵,尤其是當(dāng)樣品需要多種方法觀察或其處于自動化進(jìn)程中
借助集成的參比光,定位精度優(yōu)于蔡司的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺可以達(dá)到的500nm
尋找和發(fā)現(xiàn)ROI的過程能夠被更可靠的執(zhí)行


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