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貨物所在地:北京北京市
所在地: 丹麥
更新時(shí)間:2024-10-05 21:00:07
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DME原子力顯微鏡高精度工作臺: 適用于蔡司FE-SEMs 和SEM/AFM混合體系 高精度工作臺:在亞微米的樣品定位精度下尋找和發(fā)現(xiàn)你的目標(biāo)區(qū)域(ROI) 樣品定位是流暢和有效工作流程的關(guān)鍵,尤其是當(dāng)樣品需要多種方法觀察或其處于自動化進(jìn)程中 借助集成的參比光,定位精度優(yōu)于蔡司的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺可以達(dá)到的500nm 尋找和發(fā)現(xiàn)ROI的過程能夠被更可靠的執(zhí)行 |
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