手機(jī)芯片跌落試驗(yàn)機(jī)

跌落試驗(yàn)機(jī)適合測試各類產(chǎn)品的跌落情況，包括手機(jī)、紙箱、箱包等，請寶大儀器。

跌落試驗(yàn)機(jī)技術(shù)指標(biāo)
1、跌落高度：300-1800MM
2、試件zui大重量：100Kg；
3、試件zui大尺寸：800*800*1000mm；          
4、沖擊面板尺寸：1700*1200*14MM；
5、電機(jī)功率：1.85kw                        
6、試驗(yàn)臺外形尺寸：1700-1200-2315mm；
7、跌落誤差：±5mm；                            
8、跌落平面誤差：﹤1°
9、高度顯示采用高精度編碼器感應(yīng)
10.輔助設(shè)備：棱角棱線支援桿
11 .跌落方式：電磁式瞬間自由落體      
12、電源：AC 200~240V 50~60HZ 10A

注：
跌落高度可自由控制，如設(shè)定500mm，就到500mm自動停機(jī)。
釋放臺面上有一個(gè)直徑300mm的空心圓。
使用前先用水平儀調(diào)整底座水平。