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X射線探傷儀檢驗規(guī)程

閱讀:7824        發(fā)布時間:2016/12/22
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X射線探傷簡介  

射線探傷是利用射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無損探傷方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品的內(nèi)部缺陷,如焊縫中的氣孔、夾渣、未焊透等體積性缺陷。這種無損探傷方法有*的*性,即檢驗缺陷的直觀性、準確性和可靠性,而且,得到的射線底片可用于缺陷的分析和作為質(zhì)量憑證存檔。但此法也存在著設備較復雜、成本較高的缺點,并需要對射線進行防護。    

X射線的產(chǎn)生  

用來產(chǎn)生X射線的裝置是X射線管。它由陰極、陽極和真空玻璃(或金屬陶瓷)外殼組成,其簡單結(jié)構(gòu)和工作原理如圖1所示。陰極通以電流加熱至白熾狀態(tài)時,其陽極周圍形成電子云,當在陽極與陰極間施加高壓時,電子加速穿過真空空間,高速運動的電子束集中轟擊陽極靶子的一個面積(幾平方毫米左右、稱實際焦點),電子被阻擋減速和吸收,其部分動能(約1%)轉(zhuǎn)換為X射線,其余99%以上的能量變成熱能。

X射線的主要性質(zhì) 

•不可見,以光速直線傳播。 

•具有可穿透可見光不能穿透的物質(zhì)如骨骼、金屬等的能力,并且在物質(zhì)中有衰減的特性。 •可以使物質(zhì)電離,能使膠片感光,亦能使某些物質(zhì)產(chǎn)生熒光。   

γ射線的產(chǎn)生及性質(zhì) 

γ射線是由放射性物質(zhì)(60Co、192Ir等)內(nèi)部原子核的衰變過程產(chǎn)生的。 

γ射線的性質(zhì)與X射線相似,由于其波長比X射線短,因而射線能量高,具有更大的穿透力。例如,目前廣泛使用的γ射線源60Co,它可以檢查250mm厚的銅質(zhì)工件、350mm厚的鋁制工件和300mm厚的鋼制工件。   

射線與物質(zhì)的相互作用 

當射線穿透物質(zhì)時,由于物質(zhì)對射線有吸收和散射作用,從而引起射線能量的衰減。 射線在物質(zhì)中的衰減是呈負指數(shù)規(guī)律變化的,以強度為I0的一束平行射線束穿過厚度為δ的物質(zhì)為例,穿過物質(zhì)后的射線強度為: 

I=I0e-μδ 

式中: 

I:射線透過厚度δ的物質(zhì)的射線強度; I0:射線的初始強度;

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