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實(shí)用干貨丨X射線熒光光譜分析儀的優(yōu)缺點(diǎn)

閱讀:5821      發(fā)布時(shí)間:2022-4-8
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 一臺典型的X射線熒光(XRF)儀器由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。
  然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理,理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實(shí)際應(yīng)用中,有效的元素測量范圍為9號元素(F)到92號元素(U)。
  A.X射線用于元素分析,是一種新的分析技術(shù),但在經(jīng)過二十多年的探索以后,現(xiàn)在已*成熟,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域。
  B.每個(gè)元素的特征X射線的強(qiáng)度除與激發(fā)源的能量和強(qiáng)度有關(guān)外,還與這種元素在樣品中的含量有關(guān)。
  C.根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。
  X射線熒光分析儀的優(yōu)點(diǎn)
  對于已壓鑄好的機(jī)械零件可以做到無損檢測,而不毀壞樣品。
  測試速率高,可以在較少時(shí)間內(nèi)進(jìn)行大量樣品測試,分析結(jié)果可以通過計(jì)算機(jī)直接連網(wǎng)輸出。
  分析速度較快。
  對于純金屬可采用無標(biāo)樣分析,精度能達(dá)分析要求。
  不需要專業(yè)實(shí)驗(yàn)室與操作人員,不引入其它對環(huán)境有害的物質(zhì)。
  X射線熒光分析儀的缺點(diǎn)
  關(guān)于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數(shù)法測試時(shí),如果測試樣品里含有C、H、O等元素,會出現(xiàn)誤差。
  不能作為仲裁分析方法,檢測結(jié)果不能作為國家認(rèn)證根據(jù),不能區(qū)分元素價(jià)態(tài)。
  對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金,需要代表性樣品進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線繪制,分析結(jié)果的精確性是建立在標(biāo)樣化學(xué)分析的基礎(chǔ)上。
  標(biāo)準(zhǔn)曲線模型需求不時(shí)更新,在儀器發(fā)生變化或標(biāo)準(zhǔn)樣品發(fā)生變化時(shí),標(biāo)準(zhǔn)曲線模型也要變化。
  

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