GYB-300型引伸計檢定儀 返回列表頁

一、產(chǎn)品介紹：

GYB-300型引伸計檢定儀是一種純機(jī)械式的高精度位移測微儀器。依據(jù)JJG762—2007引伸計檢定規(guī)程要求，專門用于對各類引伸計的標(biāo)定，可進(jìn)行0.5級引伸計的標(biāo)定，也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應(yīng)百分表、千分表的標(biāo)定。

二、產(chǎn)品特點：

1、GYB-300引伸計檢定儀由精密微分測頭及測量支架組成。該標(biāo)定器是積木式結(jié)構(gòu)設(shè)計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進(jìn)行多種規(guī)格型號引伸計的計量標(biāo)定。用戶還可以根據(jù)自己的測試特殊需要，配置配件進(jìn)行精密微變形量計量。

2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數(shù)內(nèi)筒、讀數(shù)外簡及高精密螺紋付組成。其大量程25mm；小分度(游標(biāo)分度)0.0002mm；旋轉(zhuǎn)外筒分度0.002mm。

位移變化讀數(shù)為：
L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)
其中：a－內(nèi)筒毫米刻線讀數(shù)
b－外筒刻線讀數(shù)
c－游標(biāo)刻線讀數(shù)
a0 b0 c0　為相應(yīng)位移變化前讀數(shù)

三、技術(shù)指標(biāo)：

1、測量引伸計標(biāo)距范圍L max        500mm （≥250mm需另配加長桿費用另付）

2、測量支座上支臂安裝孔徑         φ10；φ28

3、微分測頭讀數(shù)內(nèi)筒軸向刻度       0.5mm／格

4、微分測頭讀數(shù)內(nèi)筒游標(biāo)刻度       0.0002mm／格

5、微分測頭讀數(shù)外筒園周刻度       0.002mm／格

6、高精密微分測頭精度指標(biāo)：      量程0.5mm以內(nèi)≤0.5μm  （誤差）量程0.5mm以上≤0.10%  （逐點相對誤差）

四、參考標(biāo)準(zhǔn)：

JJF1096-2002 引伸計標(biāo)定器校準(zhǔn)規(guī)范
ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標(biāo)定
JJG762-1992 引伸計檢定規(guī)程