一、tt260涂層測(cè)厚儀價(jià)格符合以下標(biāo)準(zhǔn)： 
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法 
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x 
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》 
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》 

二、tt260涂層測(cè)厚儀價(jià)格特點(diǎn)： 
1、采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度； 
2、可使用 7 種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1) 
3、具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）； 
4、具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)； 
5、設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、
標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）； 
6、可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正； 
7、具有存貯功能：可存貯 495 個(gè)測(cè)量值； 
8、具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量； 
9、可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析； 
10、具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖； 
11、具有與 PC 機(jī)通訊的功能：可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至 PC 機(jī)，以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理； 
12、具有電源欠壓指示功能； 
13、操作過(guò)程有蜂鳴聲提示； 
14、具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示； 
15、設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式； 

三 測(cè)量原理 
本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合 概述 金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 
a) 磁性法(F 型測(cè)頭) 
 當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。 
b) 渦流法(N 型測(cè)頭) 
 利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn) 生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。 

四、儀器的校準(zhǔn) 
為使測(cè)量準(zhǔn)確，應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。 
3.1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片（包括箔和基體） 
 已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱標(biāo)準(zhǔn)片。 
a) 校準(zhǔn)箔 
對(duì)于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對(duì)于渦流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn)，而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。 
b) 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片 
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于磁性方法， 覆蓋層是非磁性的。對(duì)于渦流方法，覆蓋層是非導(dǎo)電的。

3.2 基體 
a) 對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。 
b) 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表一中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)： 
1) 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)； 
2) 用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。 
c) 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。

3.3 校準(zhǔn)方法 
本儀器有三種測(cè)量中使用校準(zhǔn)方法: 零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、在噴沙表面上校準(zhǔn)。二點(diǎn)校準(zhǔn)法又分一試片法和二試片法。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡(jiǎn)單的。 

3.3.1 零點(diǎn)校準(zhǔn) 
適用于除 CN02 外的所有的測(cè)頭。 
a) 在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜×.×µm＞。 
b) 按 ZERO 鍵，屏顯<0.0>。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。 
c) 重復(fù)上述 a、b 步驟可獲得更為精確的零點(diǎn)，高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。 
3.3.2 二點(diǎn)校準(zhǔn) 
3.3.2.1 一試片法 
適用于除 CN02 外的所有測(cè)頭。這一校準(zhǔn)法適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。 
a) 先校零點(diǎn)（如上述）。 
b) 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜×××µm＞。 
c) 用↑、↓鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。 

3.3.2.2 二試片法 
 適用于除 CN02 外的所有測(cè)頭。兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片厚度至少相差三倍。待測(cè)覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個(gè)校準(zhǔn)值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測(cè)量。 
a) 先校零值。 
b) 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，用↑、↓鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。 
c) 緊接著在厚的一個(gè)樣片上進(jìn)行一次測(cè)量，用↑、↓鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。 

3.3.2.3 在噴沙表面上校準(zhǔn) 
 噴沙表面的特性導(dǎo)致了測(cè)量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。 

方法一： 
a) 儀器要用 3.3.1 或 3.3.2.1 的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準(zhǔn)好。 
b) 在未涂覆的經(jīng)過(guò)同樣噴沙處理的表面測(cè)量 10 次左右，得到平均值 Mo。 
c) 然后，在已涂覆的表面上測(cè)量 10 次得到平均值 Mm。 
d) （Mm—Mo）±S 即是覆蓋層厚度。 
其中 S（標(biāo)準(zhǔn)偏差）是 SMm和 SMo 中較大的一個(gè)。 
方法二： 
a) 用直接方式下的單次測(cè)量法測(cè)量。 
b) 先用兩試片法校準(zhǔn)儀器。 
c) 在試樣上測(cè)量 5～10 次。按 STATS 鍵，統(tǒng)計(jì)值中的平均值即是覆層厚度。 
3.3.2.4 銅上鍍鉻層的校準(zhǔn)方法 
適用于 N1 測(cè)頭，并使用特殊的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。（去掉 N400、N1/90°） 
 ⊙必須使用一試片法。 
 ⊙使用標(biāo)有“銅上鍍鉻” (CHROME ON COPPER) 字樣的特殊標(biāo)準(zhǔn)片。 
3.3.2.5 CN02 測(cè)頭的校準(zhǔn)方法 
CN02 是一種平展的測(cè)頭，僅適用于測(cè)量平滑表面的銅板或銅箔的厚度。 
a) 開(kāi)機(jī)后，將 CN02 測(cè)頭平穩(wěn)地放在隨機(jī)配帶的 5.0mm 銅塊上，按 ZERO 鍵，屏幕顯示“OO”； 
b) 在標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量； 
c) 用↑、↓鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量。 
d) 測(cè)量雙面覆銅板需用雙面敷銅標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)。 

3.3.3 修改組 FX中的校準(zhǔn)值 
刪除組單元中的所有數(shù)據(jù)和校準(zhǔn)值之后才能重新校準(zhǔn)。否則將出現(xiàn) E20 錯(cuò)誤代碼和鳴響報(bào)警。更換測(cè)頭后，必須用此方法。 
3.4 基本校準(zhǔn)的修正 
 在下述情況下，改變基本校準(zhǔn)是有必要的: 
 ____測(cè)頭頂端被磨損。 
 ____新?lián)Q的測(cè)頭。 
 ____特殊的用途。 
 在測(cè)量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應(yīng)對(duì)測(cè)頭的特性重新進(jìn)行校準(zhǔn)稱為基本校準(zhǔn)。通過(guò)輸入 6 個(gè)校準(zhǔn)值(1 個(gè)零和 5 個(gè)厚度值)，可重新校準(zhǔn)測(cè)頭。 
a) 在儀器關(guān)閉的狀態(tài)下按住↑和↓鍵再按 ON 鍵，直到一聲長(zhǎng)鳴，即進(jìn)入基本校準(zhǔn)狀態(tài)； 
b) 先校零值。可連續(xù)重復(fù)進(jìn)行多次，以獲得一個(gè)多次校準(zhǔn)的平均值，這樣做可以提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性； 
c) 使用標(biāo)準(zhǔn)片，按厚度增加的順序，一個(gè)厚度上可做多次。每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的 1.6 倍以上，理想的情況是 2 倍。例如: 50、100、200、400、800μm。zui大值應(yīng)該接近但低于測(cè)頭的zui大測(cè)量范圍；