X-RAY膜厚測(cè)試儀器特點(diǎn)詳細(xì)介紹：
　　1.可測(cè)量0.01um-300um的鍍層。
　　2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測(cè)量。
　　3.除平板形外，還可測(cè)量圓形、棒形（細(xì)線）等各種形狀。
　　4.可制作非破壞性膜厚儀的標(biāo)準(zhǔn)板。
　　5.該電鍍膜厚檢測(cè)儀可檢查非破壞式膜厚儀的測(cè)量精度。
　　6.可高精度測(cè)量其他方式不易測(cè)量的三層以上的鍍層。
　　7.可對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理，以及和逐級(jí)進(jìn)行共同管理。
　　8.標(biāo)準(zhǔn)板校正值的計(jì)算和設(shè)定可自動(dòng)進(jìn)行，非常簡(jiǎn)單。

X-RAY膜厚測(cè)試儀器的性能比：能夠有效并精確的測(cè)量合金屬成分，只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.可測(cè)量：

單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金層：例如 Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金層：例如 Ni上的AuCdCu合金。 
雙鍍層：例如 Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

X-RAY膜厚測(cè)試儀器產(chǎn)品指標(biāo)：

測(cè)厚技術(shù)：X射線熒光測(cè)厚技術(shù)

測(cè)試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層

測(cè)量下限：0.003um （汽車配件鍍層測(cè)厚儀 金屬電鍍光譜測(cè)厚儀 X-RAY膜厚測(cè)試儀器）

測(cè)量上限：30-50um（以材料元素判定）

測(cè)量層數(shù)：10層

測(cè)量用時(shí)：30-120秒

探測(cè)器類型：Si-PIN電制冷

探測(cè)器分辨率：149eV

高壓范圍：5-50Kv，50W

X光管參數(shù)：5-50Kv，50W，側(cè)窗類；

光管靶材：Mo靶；

濾光片：鍍層濾光片

CCD觀察：260萬(wàn)像素

微移動(dòng)范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

測(cè)試環(huán)境：非真空條件

數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式

準(zhǔn)直器：Ø0.5mm

軟件方法：FlexFP-Mult

工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義

樣品腔：70*20mm

整機(jī)重量：38kg