一、產(chǎn)品概述：

  CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業(yè)。

二、產(chǎn)品特點： 


1、樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
2、可檢測元素范圍：Ti22 - U92
3、可同時測定5層/15種元素
4、精度高、穩(wěn)定性好
5、強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
6、測量范圍寬
7、NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片
8、服務(wù)及支持

三、技術(shù)參數(shù)；
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都于*的測厚行業(yè)
1、CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定zui多5層、15 種元素。
2、精確度于世界，精確到0。025um  (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)
3、數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求：如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
4、統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
5、可測量任一測量點，zui小可達(dá)0.025 x 0.051毫米

四、可選附件：

CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
l1、標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
  2、擴展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
l3、可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
  4、程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
  5、超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

五、交貨期限：

 收到貴司訂單及合同后6-8周