X光成像分辨率測(cè)試卡

X光成像分辨率測(cè)試卡
產(chǎn)品編號(hào)：20211119-02
經(jīng)銷商：固安縣雙玉儀器有限公司
X線的特性： X線是一種波長(zhǎng)很短的電磁波。波長(zhǎng)范圍為0.0006～50nm。目前X線診斷常用的X線波長(zhǎng)范圍為0.008～0.031nm(相當(dāng)于40～150kV時(shí))。在電磁輻射譜中，居γ射線與紫外線之間，比可見光的波長(zhǎng)要短得多，肉眼看不見。
對(duì)于圖像傳輸系統(tǒng)，由于特定的成像誤差，在切向和經(jīng)向方向(例如，在L.系統(tǒng)

X光成像分辨率測(cè)試卡

產(chǎn)品編號(hào)：20211119-02

經(jīng)銷商：固安縣雙玉儀器有限公司

X線的特性： X線是一種波長(zhǎng)很短的電磁波。波長(zhǎng)范圍為0.0006～50nm。目前X線診斷常用的X線波長(zhǎng)范圍為0.008～0.031nm(相當(dāng)于40～150kV時(shí))。在電磁輻射譜中，居γ射線與紫外線之間，比可見光的波長(zhǎng)要短得多，肉眼看不見。

對(duì)于圖像傳輸系統(tǒng)，由于特定的成像誤差，在切向和經(jīng)向方向(例如，在L.系統(tǒng)中)，更好使用直線組的測(cè)試，這些直線組彼此靠近，并且彼此垂直。
為了避免由于所謂的偽銳度造成的錯(cuò)誤讀數(shù)，必須注意圖像中可識(shí)別的測(cè)試組條數(shù)與測(cè)試的條數(shù)一致。be som 測(cè)試具有連續(xù)變化的空間頻率，是群測(cè)試的一種特殊形式。它的優(yōu)點(diǎn)在于避免了由于偽銳度造成的閱讀錯(cuò)誤。
線和間距/線寬：3至50 um，16英寸

16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局

上圖為大小為5μm L&S的圖像。

Au狹縫數(shù)為3行2空間。

寬度從下午3點(diǎn)到10點(diǎn)μm：t形布局

寬度15到50μm：I形狀布局LS寬度：

芯片截面

L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum

16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。

硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。

16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。

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產(chǎn)品編號(hào)：20211119-02

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