線對卡30lp/mm
【簡單介紹】
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè) |
產(chǎn)品編號:20211126-09
銷售產(chǎn)家:固安縣雙玉儀器有限公司
X射線是一種波長極短,能量很大的電磁波,X射線的波長比可見光的波長更短(約在0.001~100納米,醫(yī)學(xué)上應(yīng)用的X射線波長約在0.001~0.1納米之間),它的光子能量比可見光的光子能量大幾萬至幾十萬倍。
綜合測試卡
綜合測試卡構(gòu)成見表3,綜合測試卡在射線探傷機、工業(yè)CT、醫(yī)用CT、醫(yī)用X光診斷設(shè)備安裝、調(diào)試
【詳細說明】
線對卡30lp/mm
產(chǎn)品編號:20211126-09
銷售產(chǎn)家:固安縣雙玉儀器有限公司
X射線是一種波長極短,能量很大的電磁波,X射線的波長比可見光的波長更短(約在0.001~100納米,醫(yī)學(xué)上應(yīng)用的X射線波長約在0.001~0.1納米之間),它的光子能量比可見光的光子能量大幾萬至幾十萬倍。
綜合測試卡
綜合測試卡構(gòu)成見表3,綜合測試卡在射線探傷機、工業(yè)CT、醫(yī)用CT、醫(yī)用X光診斷設(shè)備安裝、調(diào)試中常用到。圖4為星形測試卡。
綜合測試卡可用于檢測圖像的分辨率、圖像畸變程度、常用灰度等級、亮度、對比度。星形測試卡除上述功能外,還可以用于測量射線源的焦點尺寸。這類測試卡是射線機、工業(yè)CT、醫(yī)用CT、醫(yī)用X光診斷設(shè)備的安裝、調(diào)試、檢測、維修、保養(yǎng)不可少的工具。
檢驗方法
鉛箔厚度試驗
將測試卡與事先測定厚度的鉛箔并列放置,用X線攝影(攝影條件可選擇適當(dāng)?shù)墓茈妷阂话銥?0kVp,調(diào)節(jié)MAS值時膠片鉛箔部分的密度為0.7左右。比較膠片的黑化程度,調(diào)整測試卡的厚度。
辨率范圍:
0.6-5.0 l p/mm 0.6-10.0lp/mm
更多的分辨率要求,。
鉛當(dāng)量:0.01PB 0.05PB
線和間距/線寬:3至50 um,16英寸
16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局
上圖為大小為5μm L&S的圖像。
Au狹縫數(shù)為3行2空間。
本公司經(jīng)營線對卡業(yè)務(wù)和其他相關(guān)產(chǎn)品的業(yè)務(wù),更多產(chǎn)品的詳細信息請咨詢固安縣雙玉儀器有限公司,將會給您更加滿意的解答,期待您的到來。
產(chǎn)品編號:20211126-09
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線對卡30lp/mm
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