射線衛(wèi)生高分測(cè)試卡

射線衛(wèi)生高分測(cè)試卡

產(chǎn)品名稱：射線衛(wèi)生高分測(cè)試卡

產(chǎn)品編碼：SY20211227-6

原產(chǎn)地：德國(guó)

經(jīng)銷商：固安縣雙玉儀器設(shè)備有限公司

品牌：IBA

型號(hào)：38型   81型

分辨率測(cè)試范圍：0.6到5.0 lp/mm  0.6到10 lp/mm

鉛當(dāng)量：0.1mmPb和0.2mmPb

分辨率測(cè)試卡的射線吸收體材料用鉛箔或者與鉛當(dāng)量相當(dāng)?shù)慕饘俨?/span>

  分辨率測(cè)試卡的測(cè)試原理 4.1 將分辨率測(cè)試卡緊貼在工件上（或膠片暗袋或）離射線源較近一側(cè)的表面上，按照一定的工藝條件進(jìn)行透照，經(jīng)暗室處理后在底片上能夠觀察到幾組黑白相間的柵條影象，其中觀察到柵條剛好分離的一組線對(duì)，則該組線對(duì)所對(duì)應(yīng)的線對(duì)數(shù)即為底片（或照相系統(tǒng)）的分辯率。 4.2 將分辨率測(cè)試卡緊貼在工件上離射線源較近一側(cè)的表面上（或圖象增強(qiáng)器輸入屏表面中心區(qū)域），按照一定的工藝條件進(jìn)行透照，在顯示器上能夠觀察到幾組黑白相間的柵條影象，其中觀察到柵條剛好分離的一組線對(duì)，則該組線對(duì)所對(duì)應(yīng)的線對(duì)數(shù)即為圖像（或成像系統(tǒng)）的分辯率

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