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金相光學(xué)顯微鏡
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貨物所在地:北京北京市

地: 北京

更新時間:2025-01-30 21:00:07

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產(chǎn)品品牌:HK-JTM-6090C
產(chǎn)品簡介:該光學(xué)自動化檢測設(shè)備主要用于LCD、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè),為其研發(fā)、制造提供所需的檢測設(shè)備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導(dǎo)電粒子大小、數(shù)量等功能。

北京哈科金相光學(xué)工具顯微鏡 產(chǎn)品特點:

                              王  86-
    測量型金相顯微鏡是一種兼顧影像、目視與納米高度測量多用的高精度、高效率測量儀器。該產(chǎn)品具有電視成像與目視光學(xué)兩套瞄準系統(tǒng),可人工觀察金屬表面的金相組織結(jié)構(gòu),是集光、機、電、算、影像于一體的顯微鏡。該產(chǎn)品以二維測量為主,也可作三維輔助測量,廣泛應(yīng)用于電子組件、精密模具、塑料、PCB加工方面、鍍膜厚度、手機玻璃等工業(yè)領(lǐng)域。
 
1. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm
2. X、Y軸采用空氣軸承、花崗石導(dǎo)向,保證了機械系統(tǒng)的精確穩(wěn)定,提高了測量精度
3. X、Y、Z三軸伺服控制,定位精度高、速度快,運行平穩(wěn)
4. 同軸光/底光測量
5. 內(nèi)置偏光測量光學(xué)模塊
6. 自主開發(fā)QMS3D-M軟件,高清晰進口1/2"彩色攝像機
7. 可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置,可適應(yīng)復(fù)雜工件的測量
8. 可實現(xiàn)Z軸自動對焦
9. 具有偏光和DIC檢測功能
10. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度

 
規(guī)格參數(shù):

型號    JTM-6065C    JTM-6090C
 
工作臺    玻璃臺尺寸(mm)    690*770    640*1070
    X、Y運動行程(mm)    600*650    600*900
Z向行程(mm)    200    200
外形尺寸(mm)    1500*1350*1510    1800*1350*1510
儀器重量(kg)    1300    1550
X、Y、Z向分辨力(um)    0.1
X、Y示值誤差(um)    E1XY=(2.5+L/200)
物鏡放大倍率誤差    包括畸變在內(nèi)的放大率誤差:≦0.08%
落射照明光源    可調(diào)高亮度LED燈源
底光照明光源    可調(diào)條型光源
電源    AC 100V-240V  50/60Hz
氣源壓力    ≧0.5MPa
空氣流量    120L/min(0.4 MPa)
溫度范圍    20±2℃<1℃/h  <2℃/24h <1℃/m
濕度    55%~65%
    目視系統(tǒng)    影像系統(tǒng)

  

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