當前位置:上海信聯(lián)創(chuàng)作電子有限公司>>SUNPLUS>> SP-BS-1908型號SP-BS-1908粉末粒子雜質掃描分析儀
SP-BS-1908 型雜質黑點檢測儀
SP-BS-1908粉末粒子雜質掃描分析儀的用途
按相關國家標準分析樹脂片或顆粒的雜質黑點的大小、數(shù)量,以及黑點顆粒占比數(shù)。
適用于透明、半透明、不透明的膜片、顆粒,如PP、PE、PVC、PPS 等等。
也適用薄膜等透明體的黑點和內在疵點的檢測和分析。
SP-BS-1908粉末粒子雜質掃描分析儀的技術指標
1. 測量規(guī)格:0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm,…,等等,按選用的標準,可在軟件界面選定。
2. 最小檢測目標: 0.1mm
3. 檢測精度: 小于0.035mm
4. 檢測面積:不小于200×200mm
5. 器皿大?。?span>200mm×200mm 凈面積,用于顆粒黑點檢測。
6. 放大倍數(shù):>20 倍
7. 光密度:不小于6000 流明
8. 光源要求: 24V/60W
9. 供電電源:220V,50HZ
10.外形尺寸:約459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)
儀器功能特點
1. 測量黑點的大小和數(shù)量,以及黑點顆粒占比數(shù)。 SP-BS-1908 型 黑點檢測儀
2. 可提供黑點、損壞顆粒,以及膜片質地紋路的分布圖譜。
3. 黑點或膜片質地分布可放大和縮小。
4. 被測目標可分類計數(shù)和統(tǒng)計。
5. 按適用的標準自動生成檢測報告。
6. 報告和圖譜可打印可儲存。
7. 進樣方向與屏幕顯示的走向一致,友好的界面視覺感。
8. 顆粒以透明器皿為載體,批次檢測。
9. 透明薄膜直接平鋪在檢測平臺上進行檢測,無需對薄膜作黑化或貼紙?zhí)幚怼?/p>
儀器的配置
☆ SP-BS-1908M 雜質黑點檢測儀
☆ 標準板
☆ 透明器皿 (測顆粒用)
☆電腦工作站
☆ 應用軟件