涂鍍層測(cè)厚儀OXFORD-243E?測(cè)量技術(shù)：
      一般的測(cè)試方法，例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無(wú)法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的精確測(cè)量。
      牛津儀器將的基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到Y(jié)K-OXFORD-243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。
      牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的*應(yīng)用，將底材效應(yīng)zui小化，使得測(cè)量精準(zhǔn)且不受零件的幾何形狀影響。
      另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)
 
涂鍍層測(cè)厚儀YK-OXFORD-243E優(yōu)勢(shì)：
1、采用基于相位的電渦流技術(shù)，集測(cè)量精確、價(jià)格合理、質(zhì)量可靠的優(yōu)勢(shì)于一體的手持式測(cè)厚儀。
2、專(zhuān)為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測(cè)量，鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層-即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測(cè)量。
3、易于用戶控制，并且可以同X線熒光測(cè)儀的準(zhǔn)確性和精密性媲美。
4、為了讓客戶能以低成本購(gòu)買(mǎi)OXFORD-243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。
 
 
 
涂鍍層測(cè)厚儀OXFORD-243E技術(shù)參數(shù)
技術(shù)參數(shù)及功能：
  準(zhǔn)確度：相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)片±3%
  精確度：0.3%
  分辨率：0.1μm
  電渦流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376
存儲(chǔ)量：26,500 條存儲(chǔ)讀數(shù)
  尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm
  重量：0.26 kg 包括電池
  單位：英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換
  接口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
  顯示屏：三位數(shù)LCD液晶顯示
  電池：9伏堿性電池，65小時(shí)連續(xù)使用
*的ECP-M探頭
        ECP-M探頭專(zhuān)為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì)，此單探頭可以測(cè)量
鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探
針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。
 
測(cè)量范圍：
鐵上鍍層    鍍層厚度范圍     探頭
Zn            0–38μm       ECP-M
Cd            0–38μm       ECP-M
Cr            0–38μm      ECP-M
Cu            0–10μm      ECP-M
 
ECP-M探頭規(guī)格(mm)
zui小凸面半徑  1.143 
zui小凹面半徑  1.524
測(cè)量高度      101.6 
zui小測(cè)量直徑  2.286
底材zui小      304.8
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