變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家

       變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀*，*壽光，選擇壽光，就是選擇放心。上海壽光電氣從事電氣科技領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、電力檢測(cè)設(shè)備、儀器儀表、電力工業(yè)自動(dòng)化系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售為一體的高科技企業(yè)。

一、變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家概述

       SX-05變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是用于超高壓現(xiàn)場(chǎng)介損的測(cè)量,用變頻抗干擾和傅立葉數(shù)字濾波技術(shù),保持強(qiáng)電場(chǎng)干擾下測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠;測(cè)量結(jié)果由大屏幕雙色液晶屏清晰顯示,全中文操作界面,使用其方便。

二、技術(shù)指標(biāo)

抗干擾方式：  變頻抗干擾

測(cè)試方式：    正接法  反接法  自激法  外接法 

測(cè)量范圍：    電容量  內(nèi)接高壓  <60000PF

                      外接高壓:  30P~600000PF

                      介    損   不限,zui小分辨率0. 01%

準(zhǔn)確度：      電容量     ±(1.5%讀數(shù)+2PF)

                介  損     ±(2%讀數(shù)+0.09%)

內(nèi)接試驗(yàn)電源：0.5~10KV  電壓緩升緩降

45~65Hz頻率可調(diào)   45/55Hz自動(dòng)雙頻測(cè)試

zui大輸出電流200mA

自激電源6~50V變頻   zui大輸出電流20A

附加功能：    電子萬年歷

                標(biāo)準(zhǔn)RS232接口  100組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

工作條件：    供電電源180~240VAC   50Hz

                工作環(huán)境    溫度：－10℃~50℃    濕度30%~70%

三、現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)注意事項(xiàng)

如果使用中出現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理，請(qǐng)從以下方面查找原因：

3.1搭鉤接觸不良

  現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量使用搭鉤連接試品時(shí)，搭鉤務(wù)必與試品接觸良好，否則接觸點(diǎn)放電會(huì)引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)！如高壓掛在引流線上時(shí)，因引流線氧化層太厚，或風(fēng)吹線擺動(dòng)，易造成接觸不良。

3.2接地接觸不良

接地不良會(huì)引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕，務(wù)必保證0電阻接地！如果測(cè)量接地試品，試品地和儀器地應(yīng)共地連接，保持地電位*。

3.3直接測(cè)量CVT或末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT

直接測(cè)量CVT的下節(jié)耦合電容會(huì)出現(xiàn)負(fù)介損，應(yīng)改用自激法。

用末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT時(shí)由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損，吹干下面三裙瓷套即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。

3.4空氣濕度過大

空氣濕度大使介損測(cè)量值異常增大（或減小甚至為負(fù)）且不穩(wěn)定，必要時(shí)可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場(chǎng)分布，此法有爭(zhēng)議，可參照有關(guān)規(guī)程。

3.5測(cè)試線

由于長(zhǎng)期使用和連接，易造成測(cè)試線芯線和屏蔽短路或插座接觸不良，用戶應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線；

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能反映出儀器精度；

自激法測(cè)量CVT時(shí)，高壓線應(yīng)吊起懸空，否則對(duì)地附加雜散電容和介損會(huì)引起測(cè)量誤差。

3.6工作模式選擇

接好線后請(qǐng)選擇正確的測(cè)量工作模式（正、反等），不可選錯(cuò)。干擾環(huán)境下應(yīng)選用45Hz/55Hz變頻抗干擾模式。

3.7試驗(yàn)方法影響

由于介損測(cè)量受試驗(yàn)方法影響較大，應(yīng)區(qū)分是試驗(yàn)方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問題時(shí)可首先檢查接線，然后檢查是否儀器故障。

3.8儀器故障

         用萬用表測(cè)量一下測(cè)試線的芯線和屏蔽是否短路；輸入電源220V過高或過低；接地是否良好。

用正、反接線測(cè)一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品，如果結(jié)果正確，即可判斷儀器沒有問題。