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晶圓缺陷黃綠光表面檢查燈LUYOR-3325G
點(diǎn)擊次數(shù)：543 發(fā)布時(shí)間：2024-4-22
晶圓檢測(cè)：用于晶圓測(cè)試的黃綠光LED檢測(cè)燈,LUYOR-3325G專為晶圓質(zhì)量保證和測(cè)試而設(shè)計(jì)的光學(xué)晶圓檢測(cè)設(shè)備。
使用黃綠光檢查燈進(jìn)行晶圓檢測(cè)：
使用無(wú)紫外線輻射的黃綠光燈進(jìn)行晶圓檢測(cè)
更換用于晶圓檢測(cè)的紫外燈
在不使用汞蒸氣燈的情況下測(cè)試晶圓
設(shè)計(jì)為濾波綠光燈或?yàn)V光黃光燈，用于晶圓檢測(cè)
使用無(wú)紫外線和無(wú)汞的SECU-CHEK晶圓測(cè)試燈進(jìn)行晶圓表面檢測(cè)
為什么使用LUYOR-3325G半導(dǎo)體檢測(cè)燈進(jìn)行晶圓表面檢測(cè)？
晶圓生產(chǎn)所需的高工藝可靠性
需要經(jīng)濟(jì)高效且無(wú)故gu障的測(cè)試操作
晶圓測(cè)試對(duì)于晶圓制備和芯片生產(chǎn)的進(jìn)一步成本密集型步驟至關(guān)重要
根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的專業(yè)解決方案
晶圓生產(chǎn)中存在哪些誤差，LUYOR-3325G半導(dǎo)體檢測(cè)燈的識(shí)別能力如何？
使用過(guò)濾后的黃光燈可以很好地檢測(cè)到晶圓的缺陷
通過(guò)晶圓測(cè)試檢測(cè)夾雜物
通過(guò)目視晶圓測(cè)試檢測(cè)污染物
用黃綠光觀察生長(zhǎng)障礙
在光學(xué)晶圓測(cè)試期間識(shí)別面紗
使用LUYOR晶圓檢測(cè)燈分析條紋
與用于晶圓測(cè)試的紫外燈和汞燈相比，可以更好地檢測(cè)微觀結(jié)構(gòu)
通過(guò)晶圓檢測(cè)檢測(cè)生長(zhǎng)孔
檢查黃綠色燈的高對(duì)比度邊緣變平
在光學(xué)晶圓檢測(cè)中可以發(fā)現(xiàn)邊緣干擾
使用晶圓上的質(zhì)量檢測(cè)燈檢測(cè)結(jié)構(gòu)變化
使用紫外黃光和綠光燈檢測(cè)晶圓生產(chǎn)中的夾雜物
用過(guò)濾后的黃光燈識(shí)別不均勻
LUYOR-3325G為交流電源供電，可以手持式操作，也可以臺(tái)式操作。
LUYOR-3325GD為鋰電池供電，可以手持式操作，也可以臺(tái)式操作。