目錄:北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>SEM原位解決方案>> SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng)
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 綜合 |
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SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng)產(chǎn)品描述
SEM低溫I冷凍傳輸解決方案
CRYO-SEMPREPARATION SYSTEM
使用規(guī)范
溫度范圍:-60°C to +50°C最大功率:~45W(12V,3.5A)溫度穩(wěn)定性:±0.01°℃低圖像漂移速率冷卻和加熱速度高達 30°℃/分鐘提供 SEM 室端口饋通
應用案例
FIB冷凍制樣系統(tǒng)參數(shù)介紹
冷凍制樣系統(tǒng)參數(shù)
獨立控制系統(tǒng)
獨立真空系統(tǒng)
高匹配360°(無限)旋轉(zhuǎn)冷臺
冷臺傾轉(zhuǎn)角度>55°
冷臺溫度≤-180℃
冷臺降溫時間:s30min冷阱溫度≤-190℃
冷阱降溫時間≤15min冷臺、冷阱設計烘烤功能烘烤溫度:80℃℃
提供定制化樣品梭服務
360°旋轉(zhuǎn)冷臺
功能:用于裝載樣品梭及提供低溫保護
旋轉(zhuǎn)角度:0-360°控溫范圍:-180℃~80℃
控溫精度:≤±0.1℃℃
降溫速度:≤30min
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