目錄:北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>TEM原位解決方案>> TEM原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
---|
產(chǎn)品描述
PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)樣品桿,同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊,可以在對樣品1000 ℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測量。MEMS芯片模塊上可以選擇加熱芯片,也可以選擇電學(xué)測量芯片。力學(xué)測量模塊可以選擇不同載荷的傳感器,滿足不同實(shí)驗(yàn)需求。
該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了透射電鏡中真正意義上的高分辨定量原位高溫力學(xué)研究。
透射電鏡指標(biāo):
△ 兼容電鏡型號及極靴;
△ 部分型號電鏡可選雙傾版本,雙傾電學(xué)測量樣品桿Y軸傾角±25°;(同時(shí)受限于極靴間距);
力學(xué)傳感器指標(biāo):
△ 最大載荷100 mN(可選0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN);
△ 力測量實(shí)測噪聲優(yōu)于5nN(0.1 mN最大載荷時(shí));
△ 力測量實(shí)測分辨率優(yōu)于5 nN(0.1 mN最大載荷時(shí));
△ 自動測量力-距離曲線,自動保存。
加熱指標(biāo):
△ 溫度控制范圍:室溫至1000 ℃;
△ 溫度準(zhǔn)確度:優(yōu)于5%;
△ 溫度穩(wěn)定性:優(yōu)于±0.1 ℃。
掃描探針操縱指標(biāo):
△ 粗調(diào)范圍:X方向 1.5 mm,YZ 方向2 mm;
△ 細(xì)調(diào)范圍:XY 方向20 um,Z 方向 10 um;
△ 細(xì)調(diào)分辨率:XY 方向 0.4 nm,Z 方向 0.2 nm。
△ 超大力學(xué)測量及溫度控制范圍;
△ 多場下的力學(xué)研究;
△ 穩(wěn)定性高:輕松獲得大幅度運(yùn)動中的高分辨像,適用于更廣泛的應(yīng)用場景和樣品體系;
△ 超低維護(hù)成本:設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結(jié)構(gòu)已實(shí)現(xiàn)模塊化量產(chǎn),維護(hù)成本低;
△ 龐大的用戶群:在國內(nèi)擁有近200個高質(zhì)量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學(xué)術(shù)平臺供用戶交流;
△ 成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò):在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地?fù)碛腥舾杉夹g(shù)支持網(wǎng)點(diǎn),24小時(shí)提供技術(shù)支持。
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)