全反射X熒光光譜技術(shù)（TXRF）基于X熒光能譜法（EDXRF），但與能譜分析有著明顯的區(qū)別：傳統(tǒng)EDXRF采用原級(jí)X光束以45°角轟擊樣品，而TXRF采用毫弧度的臨界角（接近于零度角）入射。由于采用此種近于切線方向的入射角，原級(jí)X光束幾乎可以全部被反射，照射在樣品表面后，盡可能上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生，同時(shí)減小了載體的背景和噪聲，亦可減少樣品使用量。

與原子吸收及發(fā)射光譜方法相比，TXRF具有如下優(yōu)勢：

1、無需復(fù)雜的樣品前處理過程，原子吸收或ICP的樣品前處理占據(jù)了整個(gè)分析過程的絕大部分時(shí)間，通常耗時(shí)幾個(gè)小時(shí)甚至幾天，同時(shí)TXRF能有效避免前處理引入的誤差；

2、對(duì)于易揮發(fā)元素有良好檢測效果，如Hg/As/Se在消解過程中會(huì)損失，Cl/Br/I等ICP檢測效果較差；

3、檢測元素種類更多，可達(dá)80余種, 元素分析范圍從Na覆蓋到U；

4、檢出限更低，多數(shù)元素在ppt級(jí)，尤其Pb/Rh等元素，而原子吸收或ICP為ppb級(jí)。

 

與ICP-MS方法相比，兩者檢出限基本持平，但TXRF可以無視ICP-MS如下痛點(diǎn)：

1、ICP-MS的耐鹽度較差，分析高鹽分樣品時(shí)檢出限差（S/Ca/Fe/K/Se等），同時(shí)酸基體對(duì)于測量影響顯著，如鹽酸、高氯酸、磷酸、硫酸會(huì)引起質(zhì)譜干擾；

2、ICP-MS根據(jù)質(zhì)核比檢測元素，當(dāng)存在同質(zhì)異位素時(shí)，很難的完成檢測；

3、ICP-MS需要超凈實(shí)驗(yàn)室，造價(jià)昂貴；

4、ICP-MS運(yùn)行成本高，取樣錐、渦輪泵、檢測器為易損件。