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環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2024年12月19日
- 2025年3月26日
- 廣東深圳市
- 東莞市賽思檢測設(shè)備有限公司
- 233次
【產(chǎn)品簡介】
【詳細(xì)說明】
環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱對(duì)不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境，縮短測試時(shí)間，降低測試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)
環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
1、可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能；
2、可執(zhí)行慢速溫度循環(huán)[3～5℃/min]符合IEC60068-2、應(yīng)力篩選ESS[5～15℃/min]符合JESD22、快速溫變[15～30℃/min](40℃/min)、冷熱沖擊四種不同設(shè)備的溫變?cè)囼?yàn)Laboratory Class；
3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求；
4、待測品自動(dòng)負(fù)載調(diào)整免手動(dòng)設(shè)定預(yù)冷預(yù)熱，可依據(jù)待測品負(fù)載量系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整。
5、精靈快捷鍵 人性化快速進(jìn)入選單高低溫常溫沖擊 ；
6、超低除霜次數(shù) 高低溫常溫沖擊(3 Zoon)100Cycle免除霜，縮短試驗(yàn)時(shí)間與能耗。
7、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行；
8、通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線下載功能；
9、感測器放置測試區(qū)出（回）風(fēng)口賽思設(shè)計(jì)符合實(shí)驗(yàn)有效性；
10、機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測，配置無線遠(yuǎn)程報(bào)警功能；
產(chǎn)品&規(guī)范 | 廠商名稱 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán)時(shí)間 | 備注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | —— |
MIL-344A-4-16電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— |
MIL-2164A-19電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | —— | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度10℃時(shí) |
NABMAT-9492美軍*制造篩選 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 駐留時(shí)間為內(nèi)部達(dá)到溫度5℃時(shí) |
GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南 | 組件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 |
GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南 | 設(shè)備或系統(tǒng) | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時(shí)間 |
筆記本電腦 | 主板廠商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— |
環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：
SR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min] | 30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗(yàn) |
28℃/min→ | LED汽車照明燈 | |
25℃/min→ | PCB的產(chǎn)品合格試驗(yàn)、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng) | |
24℃/min→ | 光纖連接頭 | |
20℃/min→ | IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗(yàn) PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計(jì)算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號(hào) 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命 | |
17℃/min→ | MOTO | |
15℃/min→ | IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計(jì)算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境) | |
11℃/min→ | 無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級(jí)封裝可靠度試驗(yàn)(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A | |
10℃/min→ | 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試 | |
5℃/min→ | 錫須溫度循環(huán)試驗(yàn) |
環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱 技術(shù)規(guī)格：
型號(hào) | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
內(nèi)箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
預(yù)冷、預(yù)熱范圍 | -00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃ | |||
應(yīng)力沖擊范圍 | -10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃ | |||
時(shí)間設(shè)定范圍 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | |||
分辨率 | 0.01℃/min | |||
溫度均勻度 | ±3.00℃以內(nèi)（under℃3.00℃） | |||
溫度應(yīng)力變化范圍（zui小/分鐘） | +5℃～+30℃/min(+40℃) | |||
沖擊試驗(yàn)溫度 | -65℃～+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃) | |||
三箱沖擊溫度范圍 | -55℃～+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃) | |||